IEC 60191-6-16:2007
半导体器件的机械标准化.第6-16部分:半导体试验术语表和BGA、LGA、FBGA和FLGA用老化插座
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
- 标准号
- IEC 60191-6-16:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60191-6-16:2007
- 引用标准
- IEC 60191-1:1966 IEC 60191-2:1966 IEC 60191-3:1999 IEC 60191-4:1999
- 被代替标准
- IEC 47D/679/FDIS:2007
- 适用范围
- This part of IEC 60191 gives a glossary of semiconductor sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA. This standard intends to establish definitions and unification of terminology relating to tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA.
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