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370B对晶体管、半导体闸流管、二极管、SCR、MOSFET、电光器件、太阳能电池、固态显示器和其他半导体器件执行DC参数检定。...
370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作。 ...
半导体特性测试仪是一种用于化学工程领域的物理性能测试仪器，于2016年05月01日启用。 技术指标 支持多达9个精密直流源测量单元，能够提供测量0.1fA到1A的电流或者1uV-210V的电压。 主要功能 参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境，为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能。...
LCR表主要用于测量元器件的容性、感性阻抗参数，半导体测试系统主要利用四线法原理检测电阻、电容、电感等参数，数字万用表主要用于测量元器件的电压和电流等参数，在半导体测试系统中主要用于检测功率变压器的输入输出电压和电流、三端稳压器的输入输出电压和电流，二管的正向压降等参数。...
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