BS EN 60068-2-82:2007
环境测试.试验.试验Tx:电子和电气元件用晶须试验方法
Environmental testing - Tests - Test Tx - Whisker test methods for electronic and electric components
- 标准号
- BS EN 60068-2-82:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60068-2-82:2007
- 引用标准
- IEC 60068-1-1988 IEC 60068-2-14 IEC 60068-2-78 IEC 60068-20-1979 IEC 60068-58-2004 IEC 61192-3-2002 IEC 61760-1-2006
- 被代替标准
- 05/30133273 DC-2005
- 适用范围
- IEC 60068 的这一部分规定了代表成品阶段（锡或锡合金表面处理）的电气或电子元件的晶须测试。 然而，该标准没有指定对可能因外部机械应力而生长的晶须进行测试。 该测试方法由相关规范（国际组件或应用规范）采用，并转移要应用的测试严重性和定义的验收标准。 如果本标准中描述的测试考虑用于其他部件，例如电气或电子设备中使用的机械部件，则应确保材料系统和晶须生长机制具有可比性。
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