JEDEC EIA-398-1972
晶体管电容微量值测量

Measurement of Small Values of Transistor Capacitance


 

 

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标准号
JEDEC EIA-398-1972
发布
1972年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
适用范围
晶体管电容通常在两端电容或阻抗电桥上测量。当电容处于低皮法范围时,这种两端测量不是很准确或可重复。对地杂散电容与被测量的量具有相同的数量级,并随着周围接地层的机械变化而变化。

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