BS EN 60749-12:2002
半导体装置.机械和气候试验方法.变频率振动

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Vibration, variable frequency

2018-04

 

 

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标准号
BS EN 60749-12:2002
发布
2002年
发布单位
英国标准学会
替代标准
BS EN IEC 60749-12:2018
当前最新
BS EN IEC 60749-12:2018
 
 
被代替标准
00/203572 DC-2000 BS EN 60749:1999
适用范围
IEC 60749 的这一部分描述了一项测试,以确定指定频率范围内的变频振动对内部结构元件的影响。 这是一个破坏性的测试。 它通常适用于空腔型封装。 一般来说,这种变频振动测试符合 IEC 60068-2-6,但由于半导体的特殊要求,适用本标准的条款。

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