BS EN 60749-2:2002
半导体装置.机械和气候试验方法.低气压

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Low air pressure

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标准号

BS EN 60749-2:2002

发布

2002年

发布单位

英国标准学会

当前最新

BS EN 60749-2:2002

 

 

被代替标准

00/203558 DC-2000 BS EN 60749:1999

适用范围

IEC 60749 的这一部分涵盖了半导体器件的低气压测试。 该测试的主要目的是确定零部件和材料避免由于空气和其他绝缘材料在减压下介电强度降低而导致电压击穿故障的能力。 该测试仅适用于工作电压超过1 000 V的器件。 该测试适用于所有采用腔式封装的半导体器件。 该测试仅适用于军事和太空相关应用。 一般来说，低气压测试符合IEC 60068-2-13，但由于半导体的特殊要求，适用本标准的条款。

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