IS 12860-1989
X射线荧光技术法测定金属镀层厚度

Determination of metal coating thickness using X-ray fluorescence technique

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标准号: IS 12860-1989
发布: 1990年
发布单位: IN-BIS
当前最新: IS 12860-1989

适用范围: 1.1 本方法涵盖使用 X 射线荧光 (XRF) 技术来确定金属涂层的厚度。该技术适用于静止和移动样品。
1.2 本标准适用于单位面积涂层质量和涂层厚度的测定。这里提出的一般原则适用于确定任何基材（金属或非金属）上的大多数金属涂层的厚度。给定涂层的最大可测量厚度是这样的厚度，超过该厚度，特征二次X射线的强度不再随着厚度的增加而发生显着的变化。

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