IS 4329-1967
测量（移动）显微镜规范

Specification for measuring (mobile) microscopes


IS 4329-1967 中，可能用到以下仪器设备

 

徕卡Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜

徕卡Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡DM8000 M 8英寸半导体检查专用自动显微镜

徕卡DM8000 M 8英寸半导体检查专用自动显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 工业显微镜 DM12000 M

德国徕卡 工业显微镜 DM12000 M

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

材料分析显微镜 Leica DM1750 M

材料分析显微镜 Leica DM1750 M

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

蔡司（ZEISS）全自动清洁度分析仪

蔡司（ZEISS）全自动清洁度分析仪

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司（ZEISS）全自动油液污染度（油品）分析仪（Particle Analyzer）

蔡司（ZEISS）全自动油液污染度（油品）分析仪（Particle Analyzer）

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司克尔磁光显微镜

蔡司克尔磁光显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司（ZEISS）全自动清洁度分析仪

蔡司（ZEISS）全自动清洁度分析仪

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司（ZEISS）全自动油液污染度（油品）分析仪（Particle Analyzer）

蔡司（ZEISS）全自动油液污染度（油品）分析仪（Particle Analyzer）

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司克尔磁光显微镜

蔡司克尔磁光显微镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

奥林巴斯 半导体/FPD检测显微镜 MX63/MX63L

奥林巴斯 半导体/FPD检测显微镜 MX63/MX63L

奥林巴斯（中国）有限公司

 

标准号
IS 4329-1967
发布
1967年
发布单位
IN-BIS
当前最新
IS 4329-1967
 
 
本标准涵盖了测量（旅行）显微镜的一般要求和功能要求。

IS 4329-1967相似标准

JB/T 7398.6-1994 显微镜.移动尺 ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 现场移动式光学显微镜空白详细规范 JB/T 9339-1999 测量显微镜 JIS B 7153:1995 测量显微镜 JJG 571-1988 测量显微镜检定规程

IS 4329-1967 中可能用到的仪器设备

工业显微镜/工具显微镜


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