KS M 0044-1999
扫描电子显微镜的一般规则

General rules for scanning electron microscopy


说明：

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标准号
KS M 0044-1999
发布
1999年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS M 0044-1999
 
 
该韩国工业标准规定了使用扫描电子显微镜对主要由二次电子产生的样品表面微点进行形态观察和分析时所需的一般事项。

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