BS EN 60749-8:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.密封
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Sealing
- 标准号
- BS EN 60749-8:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-8:2003
- 被代替标准
- BS EN 60749:1999
- 适用范围
- IEC 60749的本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）。 该测试方法的目的是确定半导体器件的泄漏率。 注：本试验与 IEC 60749（1996）修订案 2 第 3 章第 5 节中包含的试验方法相同，只是增加了本节和第 2 节以及随后的重新编号。
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