IEC 60749-7/COR1:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部含水量的测量

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

被代替

标准号

IEC 60749-7/COR1:2003

发布

2003年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 60749-7:2011

当前最新

IEC 60749-7:2011

 

 

适用范围

这是 IEC 60749-7-2002 的技术勘误表 1（半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 7 部分：内部水分含量测量和其他残留气体的分析）

IEC 60749-7/COR1:2003相似标准

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