IEC 60749-10:2002/COR1:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械冲击

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock

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标准号: IEC 60749-10:2002/COR1:2003
发布: 2003年
发布单位: 国际电工委员会
替代标准: IEC 60749-10:2022
当前最新: IEC 60749-10:2022

适用范围: 这是 IEC 60749-10-2002 的技术勘误 1（半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 10 部分：机械冲击）

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