ASTM C1432-03由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2003。
ASTM C1432-03 在中国标准分类中归属于: F46 核材料、核燃料及其分析试验方法。
1.1 本测试方法涵盖钚(Pu)材料中25种元素的测定。将Pu溶解在酸中,通过离子交换分离将Pu基体与目标杂质分离,并通过电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定杂质的浓度。 1.2本测试方法具体用于测定 8 M HNO3 溶液中的杂质。其他钚材料中的杂质,包括氧化钚样品,如果适当溶解(参见实践 C 1168)并转化为 8 M HNO3 溶液,则可以测定。
1.3 本标准并不旨在解决所有安全问题(如果有),与其使用相关。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
ICP-OES和ICP-MS的异同 实际上,常见的ICP分析技术除了ICP-OES之外,还有一种很常见的是电感耦合等离子体-质谱(ICP-MS),两者用途是一致的,主要的不同在于分析系统,AES利用的是原子发射光谱进行定性定量分析,而MS利用的是离子质谱,采用质荷比不同而进行分离检测。...
03电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)ICP作为质谱的高温离子源,样品在通道中进行蒸发、解离、原子化、电离等过程。离子通过样品锥接口和离子传输系统进入高真空的MS 部分,通过高速顺序扫描分离测定所有离子,并通过高速双通道分离后的离子进行检测。04微波等离子体炬原子发射光谱法(MPT-AES)用微波等离子体(MPT)焰炬作为激发光源。...
ICP-OES和ICP-MS的异同实际上,常见的ICP分析技术除了ICP-OES之外,还有一种很常见的是电感耦合等离子体-质谱(ICP-MS),两者用途是一致的,主要的不同在于分析系统,AES利用的是原子发射光谱进行定性定量分析,而MS利用的是离子质谱,采用质荷比不同而进行分离检测。...
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