ASTM D6132-04
用超声波仪表对外施的有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法

Standard Test Method for Nondestructive Measurement of Dry Film Thickness of Applied Organic Coatings Using an Ultrasonic Gage


ASTM D6132-04 发布历史

ASTM D6132-04由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2004。

ASTM D6132-04 在中国标准分类中归属于: G50 涂料基础标准与通用方法。

ASTM D6132-04的历代版本如下:

  • 2022年 ASTM D6132-13(2022) 使用超声波涂层测厚仪无损测量应用有机涂层干膜厚度的标准试验方法
  • 2017年 ASTM D6132-13(2017) 使用超声波涂层厚度测量仪对应用的有机涂层的干膜厚度进行非破坏性测量的标准测试方法
  • 2013年 ASTM D6132-13 采用超声波涂层测厚仪对应用有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
  • 2008年 ASTM D6132-08 用超声波仪表对外施的有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
  • 2004年 ASTM D6132-04 用超声波仪表对外施的有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
  • 1997年 ASTM D6132-97 用超声波仪表对混凝土有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法

 

许多涂层性能受到干膜厚度的显着影响,如附着力、柔韧性和硬度。为了能够比较不同操作员获得的结果,必须仔细测量薄膜厚度。大多数保护性和高性能涂层都是为了满足每层涂层或整个系统或两者的干膜厚度的要求或规范。涂层必须在一定的最小和最大厚度公差范围内涂覆,才能实现其预期功能。除了潜在的性能缺陷之外,在涂装地板和墙壁等大面积区域时,涂抹超出必要数量的材料也是不经济的。表面粗糙度会影响该测试方法的准确性。粗糙的表面容易散射超声波脉冲,有时可能会出现奇怪的读数。该测试方法可能不适用于测量所有基材上的有机涂层厚度。如果涂层和基底具有相似的成分或者如果涂层是非均匀的,则仪器检测涂层和基底之间的明显界面的能力可能会受到阻碍。如果认为存在这些情况,请验证在已知厚度的涂层/基材组合上的操作。多层涂层有许多界面,仪器将测量分隔两种声学差异最大的材料的界面。一些仪器能够检测和测量多层系统中的各个层的厚度。本试验方法的使用不一定受基材类型的限制,如无损磁力式或涡流式。

1.1 本试验方法涵盖使用超声波膜厚计准确、无损地测量有机涂层的干膜厚度。应用于不同材料的基材上。测量可以在现场结构、商业制造的产品或实验室测试样本上进行。这些类型的测厚仪可以精确测量混凝土、木材和墙板基材上有机涂层的干膜厚度。

1.2 本测试方法不适用于在测量仪器负载下容易变形的涂层,因为仪器探头直接放置在测量仪器上。

1.3 使用超声波原理的仪器的有效范围受到仪表设计的限制。已证明厚度范围为 0.3 至 600 密耳(8 956;米至 15 956;毫米)。

1.4 以 SI 单位表示的值应视为标准。括号中给出的值仅供参考。

1.5 本标准无意解决与其使用相关的安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

标准号
ASTM D6132-04
发布
2004年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM D6132-08
当前最新
ASTM D6132-13(2022)
 
 

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