ASTM E1829-02
先于表面分析的样品处置标准指南

Standard Guide for Handling Specimens Prior to Surface Analysis

被代替

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标准号

ASTM E1829-02

发布

2002年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1829-09

当前最新

ASTM E1829-14(2020)

 

 

适用范围

正确处理和制备样本对于分析尤为重要。样本处理不当可能会导致表面成分改变和数据不可靠。应小心处理样本，以避免引入虚假污染物。目标必须是保留表面的状态，以便分析能够代表原始主题。俄歇电子能谱 (AES)、X 射线光电子能谱 (XPS) 和二次离子质谱 (SIMS) 对通常几纳米厚的表面层敏感。此类薄层可能会因样本处理不当而受到严重干扰 (1)。3 本指南介绍了尽量减少样本处理对使用表面敏感分析技术获得的结果的影响的方法。它适用于样品所有者或表面分析服务购买者以及表面分析人员。由于样本类型和所需信息的范围广泛，这里仅提供广泛的指导原则和一般示例。最佳处理程序将取决于特定的样本和所需的信息。建议样品供应商尽快咨询表面分析人员，了解样品历史、要解决的具体问题或所需信息，以及所需的特定样品制备或处理程序。表面分析人员还可以参考指南 E 1078，该指南讨论了样本准备、安装和分析的附加程序。
1.1 本指南涵盖了表面分析之前的样本处理和准备，并适用于以下表面分析学科：
1.1.1 俄歇电子能谱 (AES)、1.1.2 X 射线光电子能谱（XPS 或 ESCA）和 1.1.3 二次离子质谱、SIMS。
1.1.4 虽然主要针对 AES、XPS 和 SIMS，但这些方法也适用于许多表面敏感分析方法，例如离子散射光谱法、低能电子衍射和电子能量损失光谱法，其中样品处理会影响表面敏感测量。
1.2 本标准并不旨在解决所有安全问题（如果有） ，与其使用相关。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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