ASTM F1372-93(2005)
气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜(SEM)分析的标准试验方法

Standard Test Method for Scanning Electron Microscope (SEM) Analysis of Metallic Surface Condition for Gas Distribution System Components


标准号
ASTM F1372-93(2005)
发布
1993年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM F1372-93(2012)
当前最新
ASTM F1372-93(2020)
 
 
适用范围
该测试方法的目的是定义测试考虑安装到高纯度气体分配系统中的组件的程序。应用该测试方法预计将在测试的组件之间产生可比较的数据,以验证该安装的资格。
1.1 本测试方法涵盖了管道、配件和阀门等部件内表面的表面形态测试。
1.2 本测试方法适用于管道、连接器、调节器、阀门和任何金属部件的所有表面,无论尺寸如何。
1.3 局限性:
1.3.1 该方法假设 SEM 操作员通常在 12 个月内达到技能水平。
1.3.2 本试验方法仅限于评估凹坑、纵梁、撕裂、凹槽、划痕、夹杂物、阶梯状晶界和其他表面异常。然而,在异常评估中应排除样本制备过程中可能产生的污渍和颗粒。
1.4 以 SI 单位表示的数值应被视为标准。括号中给出的英寸-磅单位仅供参考。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。具体危险说明见第 6 节。

ASTM F1372-93(2005)相似标准


推荐

46个电子显微镜知识点,你get了吗?

04、扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary...

各种材料分析仪器原理与比较

一般常见材料分析技术,不外乎想要得知试片:(1)表面或材料内部显微结构影像,此类代表仪器包括扫描式电子显微镜SEM)、穿透式电子显微镜(TEM)及原子力显微镜(AFM)等;(2)材料成份分析,此类代表仪器包括X光能量散布分析仪(EDS)、表面化学分析仪(ESCA)、欧杰电子显微镜(AES)及二次离子质谱仪(SIMS)等; (3)材料结晶结构鉴定与分析,此类代表仪器包括X光绕射分析仪(...

SEM扫描电镜知识点扫盲,请收好

扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary...

一文读懂原子力显微镜(AFM)测试

硼酸锌AFM 图成分分析电子显微镜中,用于成分分析信号是X-射线和背散射电子。X-射线是通过SEM 系统能谱仪(EDS)和波谱仪(WDS)来提供元素分析。在SEM 中利用背散射电子所呈背散射像又称为成分像。而在AFM 中不能进行元素分析,但它在PhaseIma ge 模式下可以根据材料某些物理性能不同来提供成分信息。...


ASTM F1372-93(2005) 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号