ISO 22493-2008
微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary

ISO 22493-2008 发布历史

ISO 22493-2008由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2008-10。

ISO 22493-2008 在中国标准分类中归属于: N27 记录仪器及光线示波器,N38 光学设备，在国际标准分类中归属于: 01.040.37 成像技术 (词汇),37.020 光学设备。

ISO 22493-2008的历代版本如下：

• 2008年10月 ISO 22493-2008 微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
• 2014年04月 ISO 22493-2014 微束分析. 扫描电子显微术. 词汇

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标准号

ISO 22493-2008

发布日期

2008年10月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

N27;N38

国际标准分类号

01.040.37;37.020

发布单位

IX-ISO