Niniejsza norma jest t?umaczeniem angielskiej wersji normy mi?dzynarodowej IEC Publication 747-7 (1988) Semiconductor discrete devices and integrated circuits Part 7: Bipolar transistors.
T?umaczenie, ze wzgl?du na obj?to?? normy mi?dzynarodowej obejmuje tylko jej cz???, tzn. Rozdzia? IV Ogólne i rozjemcze metody pomiarowe (strony Publikacji od 89 do 223 w??cznie) oraz Rozdzia? V Badania odbiorcze i niezawodno?ciowe (strony Publikacji od 225 do 229 w??cznie), z rysunkami i tablicami przy zachowaniu uk?adu tre?ci i jego numeracji zgodnej z orygina?em. Rysunki w normie ponumerowano od 1 do 49, co odpowiada numeracji od 4 do 53 przyj?tej w Rozdz. IV Publikacji IEC 747-7 (1988) i zmianie nr 1 z maja 1991 r.
Pomini?to z publikacji IEC Przedmow? i Wst?p.
W tre?ci normy nie wprowadzono zmian merytorycznych i uzupe?nień.
Pozosta?e Rozdzia?y normy IEC 747-7 (1988) s? obj?te Polskimi Normami:
Rozdzia? I i II — PN-92/T-01208/01
Rozdzia? III — PN-92/T-01208/02
Przedmowa, Informacje dodatkowe i odsy?acze stanowi? krajowe uzupe?nienie normy.