ASTM B568-98(2009)
用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法

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适用范围: 这是一种灵敏、非接触式、非破坏性的方法，用于测量金属和某些非金属涂层的涂层厚度（在某些情况下，测量涂层成分），厚度范围从 0.01 µm 到 75 µm μm取决于涂层和基材材料。它可用于测量其他技术不易测量的涂层和基底组合。涂层厚度是涂层使用性能的重要因素。
1.1 本测试方法涵盖使用 X 射线光谱法测定金属和某些非金属涂层的厚度。
1.2 给定涂层的最大可测量厚度是指超过该厚度时，来自涂层或基材的特征二次 X 辐射的强度不再对厚度的微小变化敏感。
1.3 本试验方法测量单位面积涂层的质量，如果已知涂层的密度，也可以用线性厚度单位表示。
1.4 本试验方法不包括人员防护 X 射线管产生的或放射性同位素源辐射的问题。有关这一重要方面的信息，应参考国家辐射防护和测量委员会、联邦公报、核管理委员会、国家标准技术研究所（前国家标准局）的现行文件，并说明和本地代码（如果存在）。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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