IEC 62132-2:2010
集成电路.电磁抗扰度测量.第2部分:辐射抗干扰的测定.横电磁波传输室和宽带横电磁波传输室方法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method


标准号
IEC 62132-2:2010
发布
2010年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 62132-2:2010
 
 
引用标准
IEC 60050-131:2002 IEC 60050-161:1990 IEC 61967-2 IEC 62132-1:2006
被代替标准
IEC 47A/838/FDIS:2010
适用范围
本国际标准规定了测量集成电路(IC)对射频(RF)辐射电磁干扰的抗扰度的方法。该方法的频率范围为 150 kHz 至 1 GHz,或受 TEM 室特性的限制。

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