GB/T 4326-1984
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals--Measurement of Hall mobility and Hall coefficient

GB/T 4326-1984 发布历史

本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流子霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阻率和霍尔系数，因此本标准也分别适用于这些参数的测量。

GB/T 4326-1984由国家质检总局 CN-GB 发布于 1984-04-12，并于 1985-03-01 实施。

GB/T 4326-1984 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法。

GB/T 4326-1984的历代版本如下：

• 1984年04月12日 GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
• 2006年07月18日 GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 于 2006-07-18 变更为 GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法。

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标准号

GB/T 4326-1984

发布日期

1984年04月12日

实施日期

1985年03月01日

废止日期

无

中国标准分类号

H21

国际标准分类号

29.040.30

发布单位

CN-GB

代替标准

GB/T 4326-2006

适用范围

本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流子霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阻率和霍尔系数，因此本标准也分别适用于这些参数的测量。

GB/T 4326-1984系列标准

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