微束分析.扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
找不到引用GB/T 25189-2010 微束分析.扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法 的标准
微束分析-半导体探测器X射线能谱仪通则仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。该标准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)联用的此类EDS的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。 GB/T 25189-2010 微束分析-扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法,该标准规定了扫描电镜-能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。...
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