GOST 26239.1-1984
半导体硅及其初始产品和石英.杂质测定法

Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. Method of impurities determination

GOST 26239.1-1984 发布历史

GOST 26239.1-1984由RU-GOST R 发布于 1984，并于 1986-01-01 实施。

GOST 26239.1-1984在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

GOST 26239.1-1984 发布之时，引用了标准

• GOST 123-1978 
• GOST 804-1972 
• GOST 849-1970 
• GOST 859-1978 
• GOST 1277-1975 试剂.硝酸银.规范
• GOST 1467-1977 
• GOST 3118-1977 试剂.盐酸.规范
• GOST 3640-1979 
• GOST 3778-1977 
• GOST 4331-1978 黑色氧化镍.技术条件
• GOST 4461-1977 试剂.硝酸.规范
• GOST 4526-1975 试剂.氧化镁.规范
• GOST 4530-1976 试剂.碳酸钙.规范
• GOST 5905-1979 

GOST 26239.1-1984的历代版本如下：

• 1984年 GOST 26239.1-1984 半导体硅及其初始产品和石英.杂质测定法

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标准号

GOST 26239.1-1984

发布日期

1984年

实施日期

1986年01月01日

废止日期

无

国际标准分类号

29.045

发布单位

RU-GOST R