JIS H 7805:2005
用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法

Method for crystallite size determination in metal catalysts by X-ray diffractometry


JIS H 7805:2005 发布历史

JIS H 7805:2005由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2005-03-20。

JIS H 7805:2005 在中国标准分类中归属于: H10 金属化学分析方法综合,在国际标准分类中归属于: 71.100.99 其他化工产品,77.020 金属生产,77.040.20 金属材料无损检测。

JIS H 7805:2005的历代版本如下:

  • 2005年 JIS H 7805:2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法

 

この規格は,X線回折法による担持金属解媒などの金属触媒の結晶子径測定方法について規定する。この規格は,結晶子径2nm以上100nm以下で,金属含有量が1%以上の試料に適用する。

标准号
JIS H 7805:2005
发布
2005年
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS H 7805:2005
 
 

JIS H 7805:2005相似标准


推荐

X射线衍射应用介绍

应用范围: 工业X射线衍射在当今科技领域里用来分析各种物质成分结构测试仪器已得到了广泛应用。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射都是物质表征和质量控制不可缺少方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等相组成分析,大部分晶体物质定量、半定量分析;晶体物质晶粒大小计算;晶体物质结晶度计算等。 ...

X射线衍射(XRD)应用

XRD全称X射线衍射X-Ray Diffraction), 是一种分析技术。利用X射线晶体衍射现象来获得衍射X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱,利用谱图信息可以得到晶体材料体相结构信息。是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团种类和位置分布,晶胞形状和大小等)有力方法。X射线衍射因其无损样品、无污染、快速、精度高等优点,已被广泛应用于材料研究表征和质量控制。...

X射线衍射原理和应用范围

  X射线衍射是一种常用检测仪器,利用波长很短电磁波能穿透一定厚度物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离,测定物质晶体结构,织构及应力,进行物相分析,定性分析,定量分析。  ...

X射线衍射可以进行哪些分析?

可根据其宽化程度和线型求出金属材料或零部件晶粒大小和微观应力数值,用以研究材料机械性能、塑性变形特性、合金强化等问题。   除了上述常用一些X射线衍射分析方法外,还有点阵常数测定、结构测定、单晶定向等分析方法,在研究热处理、相变、加工形变等对金属材料组织和性能影响方面具有重要作用。...


JIS H 7805:2005 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号