JIS H 7805:2005由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2005-03-20。
JIS H 7805:2005 在中国标准分类中归属于: H10 金属化学分析方法综合,在国际标准分类中归属于: 71.100.99 其他化工产品,77.020 金属生产,77.040.20 金属材料无损检测。
この規格は,X線回折法による担持金属解媒などの金属触媒の結晶子径測定方法について規定する。この規格は,結晶子径2nm以上100nm以下で,金属含有量が1%以上の試料に適用する。
应用范围: 工业用X射线衍射仪在当今科技领域里用来分析各种物质成分结构的测试仪器已得到了广泛的应用。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析,大部分晶体物质的定量、半定量分析;晶体物质晶粒大小的计算;晶体物质结晶度的计算等。 ...
XRD全称X射线衍射(X-Ray Diffraction), 是一种分析技术。利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱,利用谱图信息可以得到晶体材料的体相结构信息。是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)有力的方法。X射线衍射仪因其无损样品、无污染、快速、精度高等优点,已被广泛应用于材料研究表征和质量控制。...
X射线衍射仪是一种常用的检测仪器,利用波长很短的电磁波能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离,测定物质的晶体结构,织构及应力,的进行物相分析,定性分析,定量分析。 ...
可根据其宽化程度和线型求出金属材料或零部件中晶粒大小和微观应力数值,用以研究材料的机械性能、塑性变形特性、合金强化等问题。 除了上述常用的一些X射线衍射分析方法外,还有点阵常数测定、结构测定、单晶定向等分析方法,在研究热处理、相变、加工形变等对金属材料组织和性能的影响方面具有重要的作用。...
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