GB/Z 26082-2010
纳米材料直流磁化率(磁矩)测量方法

Measuring method for DC magnetic susceptibility (magnetic moment) of nanomaterials


GB/Z 26082-2010 中,可能用到以下仪器

 

磁化率天平

磁化率天平

北京中科科尔仪器有限公司

 

MicroSense震动样品磁强计

MicroSense震动样品磁强计

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

微分干涉相衬显微镜

微分干涉相衬显微镜

北京创诚致佳科技有限公司

 

超导量子计算测控系统  SQMC

超导量子计算测控系统 SQMC

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

GB/Z 26082-2010



标准号
GB/Z 26082-2010
发布日期
2011年01月10日
实施日期
2011年10月01日
废止日期
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
17.220.20
发布单位
国家质检总局
引用标准
GB/T 19619
适用范围
本指导性技术文件规定了测量纳米材料直流磁化率(磁矩)的术语和定义、样品制备及测量、测量仪器、测量步骤和试验报告等。 本指导性技术文件适用于利用电磁感应定律制造的超导量子干涉器磁强计及振动样品磁强计测量纳米材料直流磁化率(磁矩)。亚微米尺度范围的材料也可参照本标准执行。

GB/Z 26082-2010 中可能用到的仪器设备





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