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-2006 可靠性试验.恒定失效率和恒定失效强度的符合性试验BS EN 60749-30-2005+A1-2011 半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.非密闭式表面安装设备可靠性试验前预处理BS EN 60749-30-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试之前非气密表面安装器件的预调试BS EN 62309-2004 含可再用部件的产品的可靠性.功能和试验的要求BS EN...
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(HIC)的IEEE标准(用于并行系统构建的低成本,低延迟可伸缩串行互连)IEEE 21450-2010 - IEEE信息技术标准 - 传感器和执行器的智能传感器接口 - 通用功能,通信协议和传感器电子数据表(TEDS)格式IEEE 21451-1-2010 - IEEE信息技术标准 - 传感器和执行器的智能传感器接口 - 第1部分:网络能力应用处理器(NCAP)信息模型IEEE 21451-2-2010...
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