IEC 62496-2-2:2011
光学电路板.第2-2部分:测量.光学电路板的尺寸规格
Optical circuit boards - Part 2-2: Measurements - Dimensions of optical circuit boards
- 标准号
- IEC 62496-2-2:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62496-2-2:2011
- 适用范围
- IEC 62496的本部分规定了与IEC 62496-4中定义的光电路板(OCB)接口信息相关的尺寸的测量程序。
IEC 62496-2-2:2011相似标准
推荐
【案例】PCB行业应用的专家 Leica DMS 1000
不同用户使用时，显示器的调整也可快速、方便地完成。远心光路当您必须进行精确测量时，就需要使用高性能的光学元件。Leica DMS1000 配备远心光路作为数字显微镜系统的核心测量部件。（注：部分信息来源于网络。）了解更多DMS 1000更多信息点击底部阅读原文...
XRF与电子封装小型化的挑战
XRF是一项用于分析晶圆、引线框架和印刷电路板上沉积层的成熟技术，但是，由于其体积变得非常小，老式XRF光谱仪提供可靠结果的能力受到了挑战。为晶元级封装分析而设计的XRF光谱仪：FT150日立分析仪器开发了XRF光谱仪，特别适用于验证集成电路基材、凸块下金属层、引线框架电镀和印刷电路板电镀。FT150光谱仪包括最新的X射线荧光技术，提供纳米级电镀的高精度测量结果。...
微 X 射线荧光 (µXRF)技术详解
此外，这些光学晶体克服了 X 射线强度的负二次方对离源距离的依存性的限制，从而开发了用于内嵌半导体和其他材料工业的小尺寸和低功率 µXRF 系统，并且开发出远程或便携式仪器。采用 X 射线光学晶体的 µXRF 已成功用于多种应用，包括小特性评估、元素映射、薄膜和镀层厚度测量、微量污染物检测、用于高级电路板的多层涂层评估、微粒分析和取证。 ...
影响清洁度高效分析的根本原因解析
对于电子工业来说，金属颗粒的导电性最高，尺寸超过200μm的颗粒[3]最容易导致电路板短路。图2：通过聚焦在A）过滤片底部和B）颗粒的顶部，用光学显微镜测量颗粒的高度。图3：利用光学显微镜测量弯曲纤维的宽度或长度。使用可以在光纤内部施加的最大圆形直径（13μm），现实地评估对其造成损害的风险。在这种情况下，最小费雷特直径（费雷特径min = 180 µm）不适用，因为它大大高估了损坏的可能性。...