本部分规定了温度周期与正弦振动、随机振动综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
GB/T 12085.19-2011由国家质检总局 CN-GB 发布于 2011-06-16,并于 2011-11-01 实施,于 2023-05-01 废止。
GB/T 12085.19-2011 在中国标准分类中归属于: N30 光学仪器综合,在国际标准分类中归属于: 37.020 光学设备。
* 在 GB/T 12085.19-2011 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
GB/T 12085.19-2011 光学和光学仪器.环境试验方法.第19部分:温度周期与正弦振动、随机振动综合试验 于 2022-10-14 变更为 GB/T 12085.22-2022 光学和光子学 环境试验方法 第22部分: 低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验。
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2.机械环境试验(GB2423,GJB150A,GJB4,IEC60068、GJB1032,GJB322A,GJB360A,GJB548,TB3058,GJB899、GB/T21563、ISO16750等)A.振动试验:正弦振动试验(扫频耐久试验)、随机振动试验、宽带随机振动试验,窄带随机振动试验,正弦+随机叠加试验;B.冲击试验:半正弦波机械冲击试验,后峰锯齿波冲击,冲击响应谱试验;C.其他试验:...
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