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此外射线照相对源至胶片的距离(焦距)有一定要求,如焦距太短,则底片清晰度会很差。(7)对缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸(高度)的确定比较困难 除了一些根部缺陷可结合焊接知识和规律来确定其在工件中厚度方向的位置,很多缺陷无法用底片提供的信息定位。 缺陷高度可通过黑度对比的方法作出判断,但度不高,尤其影像细小的裂纹类缺陷,其黑度测不准,用黑度对比方法测定缺陷高度的误差较大。...
7 JB/T 13156-2016无损检测 工业射线照相底片光学密度的测定方法 本标准规定了工业射线照相底片光学密度的测定方法,以及透射光学密度计和已校准光学密度阶梯片的技术要求和校准方法。 本标准适用于工业射线照相底片的质量控制。 ...
X-ray 方法: X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。...
2)镀层的厚度要保证零件的使用性能,零件表面的镀层必须达到一定的厚度。常用的镀层厚度测量方法包括破坏性和非破坏性两大类。破坏性测厚法包括阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等;非破坏性测厚法包括机械量具法、磁性法、涡流法、β射线反向散射法、x射线分光法等。采用这些方法测量镀层的厚度时请参照相应的国家标准。...
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