DS/EN 60749-18:2003
半导体器件机械和气候试验方法第18部分：电离辐射（总剂量）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

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标准号: DS/EN 60749-18:2003
发布: 2003年
发布单位: 丹麦标准化协会
当前最新: DS/EN 60749-18:2003

适用范围: IEC 60749 的这一部分提供了一个测试程序，用于定义测试封装半导体集成电路和分立半导体器件的钴 60 (60Co) 伽马射线源电离辐射（总剂量）效应的要求。

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