DL/T 1151.22-2012
火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法.第22部分：X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析
Analytical methods of scale and corrosion products in power plants.Part 22: standard test methods of X-ray fluorescence spectrometry and X-ray diffraction
哪些标准引用了DL/T 1151.22-2012
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- 标准号
- DL/T 1151.22-2012
- 发布日期
- 2012年08月23日
- 实施日期
- 2012年12月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- F24
- 国际标准分类号
- 27.100
- 发布单位
- CN-DL
- 引用标准
- GBZ 115 GBW (E)130014 GBW (E)130017 DL/T 1151.2 JJG 810 JJG 629 JY/T 009-1996
- 被代替标准
- SD 202-1986
- 适用范围
- 本部分规定了使用X射线荧光光谱法、X射线衍射法对火力发电厂垢和腐蚀产物的化学成分（C～U）和物相组成进行定性、定量分析的方法。 本部分适用于使用X射线荧光光谱法、X射线衍射法对火力发电厂垢和腐蚀产物的化学成分（C～U）和物相组成进行定性、定量分析。
DL/T 1151.22-2012 中可能用到的仪器设备
电子探针X射线微区分析仪(EPMA)
X射线能谱仪(EDS)
电化学工作站
气质联用仪
扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
X射线显微镜
色谱检测器
电镜制样设备
X射线衍射仪(XRD)
激光诱导击穿光谱LIBS
有机元素分析仪
光电直读光谱仪
金属多元素分析仪
光栅光谱仪(单色仪)
其它光学测量仪
拉曼光谱仪
近红外光谱仪
离子色谱仪IC
ICP光谱/MP-AES/ICP-AES
红外光谱仪
光纤光谱仪
分子荧光光谱/荧光分光光度计
X荧光光谱/XRF（波长色散型）
X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）
紫外可见分光光度计
太赫兹光谱仪
扫描电镜SEM
X射线散射仪
薄层扫描色谱仪TLC
流动分析仪
液相色谱仪LC
X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设
ICP-MS
原子荧光光谱仪
测汞仪
原子吸收光谱仪（AAS）
X射线荧光测厚仪
X射线探伤机、X射线探伤仪
激光光散射仪
密度计、密度仪
X射线实时成像检测系统
硬度计
工业CT
激光粒度仪、纳米粒度仪
马弗炉/电阻炉/实验炉
压片机
干燥设备/烘箱/干燥箱
熔样机
实验室研磨机/研磨仪/粉碎机/球磨机
细胞成像/高内涵成像
紫外分析仪/紫外检测仪/紫外透射仪
基因/DNA测序仪
酶标仪
组织细胞染色机
流式细胞仪
电泳仪及附件
酶标仪
全自动血液分析仪、血细胞/血球分析仪
氨气分析仪
多参数水质分析仪
氮氧化物分析仪（NOX）
测油仪/油分浓度仪
多组分气体分析仪
溶解氧测定仪
PM2.5/PM10/PM1/TSP环境大气颗粒物监测仪
CO2/CO检测仪
报警装置（CO、CH4、Cl2、H2S、汽油泄露等）
啤酒/饮料/饮用酒检测仪
石油测硫仪
牛奶分析仪、乳品分析仪