DIN EN ISO 25178-71-2013
产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第71部分:软件测量标准(ISO 25178-71-2012).德文版本EN ISO 25178-71-2012

Geometrical product specification (GPS) - Surface texture: Areal - Part 71: Software measurement standards (ISO 25178-71:2012); German version EN ISO 25178-71:2012

 

 

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标准号
DIN EN ISO 25178-71-2013
发布日期
2013年03月
实施日期
废止日期
无
中国标准分类号
N13
国际标准分类号
17.040.30
发布单位
DE-DIN
引用标准
ISO 5436-2-2001 ISO 16610 ISO 17450-2-2012 ISO 25178-2 ISO 25178-3 ISO/IEC Guide 98-1-2009 ISO/IEC Guide 99-2007
被代替标准
DIN EN ISO 25178-7-2009

DIN EN ISO 25178-71-2013系列标准

DIN EN ISO 25178-1-2016 几何产品技术规格 (GPS).表面结构:平面式.第1部分:表面结构的表示(ISO 25178-1-2016).德文版本EN ISO 25178-1-2016 DIN EN ISO 25178-2-2012 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第2部分: 术语, 定义和表面纹理参数(ISO 25178-2-2012); 德文版本EN ISO 25178-2-2012 DIN EN ISO 25178-3-2012 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:表面.第3部分:操作者规范(ISO 25178-3-2012).德文版本EN ISO 25178-3-2012 DIN EN ISO 25178-6-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:表面的.第6部分:表面纹理测量方法的分类(ISO 25178-6-2010).德文版本EN ISO 25178-6-2010 DIN EN ISO 25178-601-2011 产品几何技术规范(GPS).表面结构:平面的.第601部分:接触式(触针式)仪器的标称特性(ISO 25178-601-2010);德文版本EN ISO 25178-601-2010 DIN EN ISO 25178-602-2011 产品几何技术规范(GPS)-表面纹理:平面.第602部分:非接触式(共焦彩色探针)仪器的标称特征(ISO 25178-602-2010);德文版本EN ISO 25178-602-2010 DIN EN ISO 25178-603-2014 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第603部分:非接触(相移干涉计的显微检查)仪器标称特征(ISO 25178-603-2013).德文版本EN ISO 25178-603-2013 DIN EN ISO 25178-604-2013 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第604部分:非接触式标称特征(连贯性扫描干涉法)仪器(ISO 25178-604-2013).德文版本EN ISO 25178-604-2013 DIN EN ISO 25178-605-2014 几何产品技术规格(GPS). 表面结构: 平面式. 第605部分: 非接触式(连贯性扫描干涉法)仪器的标称特性(ISO 25178-605-2014); 德文版本EN ISO 25178-605-2014 DIN EN ISO 25178-606-2016 几何产品规范 (GPS).表面纹理:面.第606部分:非接触式 (变焦) 仪器的标称特性(ISO 25178-606-2015).德文版本EN ISO 25178-606-2015 DIN EN ISO 25178-70-2014 几何产品技术规格(GPS). 表面结构: 平面式. 第70部分: 材料测量(ISO 25178-70-2014); 德文版本EN ISO 25178-70-2014 DIN EN ISO 25178-701-2011 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:平面的.第701部分:接触式(触针)仪器的校准和测量标准(ISO 25178-701-2010);德文版本EN ISO 25178-701-2010 DIN EN ISO 25178-72-2021 产品几何技术规范(GPS). 表面纹理: 面. 第72部分: XML文件格式x3p(ISO 25178-72-2017+Amd 1-2020);德文版本EN ISO 25178-72-2017+A1-2020

谁引用了DIN EN ISO 25178-71-2013 更多引用

DIN ISO 14999-4-2016 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2015)


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