而岛津SPM的表面电流测试模式可以对精密抛光后的合金表面,在施加恒定偏压的情况下进行扫描,检测探针和合金之间的电流,从而直观地展示合金表面电流的分布情况。图2 Cux[Ni3Al1]合金γ相和γ′相的SPM表面电流图如图2所示,蓝色和红色区域分别代表γ相和γ′相,其对应的电流值分别为15.55 nA和0.76 nA,电流值越大代表此处的导电性能越好,由此可知,溶质固溶加大了两相电阻差值。...
有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀 金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试 夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。 ...
根据不同材料特性需要,配有多款测试探头: 1)高耐磨碳化钨探针探头,测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻; 2)球形镀金铜合金探针探头,测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻; 3)配合四端子测试夹具,测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻; 4)高温四探针测试仪探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率...
有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。...
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