YS/T 229.4-2013
高纯铅化学分析方法 第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法

Chemical analysis methods for high purity lead.Part 4:Determination of trace impurity elements content.Glow discharge mass spectrometry


YS/T 229.4-2013 中,可能用到以下仪器

 

HORIBA GD Profiler 2射频辉光放电光谱仪

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HORIBA科学仪器事业部

 

Profiler HR 辉光放电光谱仪

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HORIBA科学仪器事业部

 

Waters Xevo G2-XS QTof 高分辨质谱

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沃特世科技(上海)有限公司

 

Vion IMS QTof质谱仪

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沃特世科技(上海)有限公司

 

布鲁克rapifleX MALDI-TOF/TOF基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪

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布鲁克(北京)科技有限公司-质谱仪器

 

布鲁克maXis II高分辨飞行时间质谱

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布鲁克(北京)科技有限公司-质谱仪器

 

microflex LRF MALDI-TOF质谱仪

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布鲁克(北京)科技有限公司-质谱仪器

 

布鲁克compact 高分辨飞行时间质谱

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法国Alyxan高分辨质子传递反应质谱

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QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

GA2100 HPIMS 高分辨电喷雾离子迁移谱仪

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北京绿绵科技有限公司

 

放电等离子体烧结炉

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QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

YS/T 229.4-2013



标准号
YS/T 229.4-2013
发布日期
2013年10月17日
实施日期
2014年03月01日
废止日期
中国标准分类号
H13
国际标准分类号
77.120.60
发布单位
CN-YS
适用范围
YS/T 229的本部分规定了高纯铅中痕量杂质元素含量的测定方法,测定元素见表1。本部分适用于高纯铅中痕量杂质元素含量的测定。各元素测定范围如下:硫、硒元素的测定范围为100 μg/kg~5 000 μg/kg,其余元素的测定范围为 1 μg/kg~5 000 μg/kg。

YS/T 229.4-2013 中可能用到的仪器设备





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