KS C 6040-2004
电子设备用连接器试验法

Method for test of connectors for use in electronic equipment

2014-12

KS C 6040-2004 发布历史

KS C 6040-2004由韩国科技标准局 KR-KATS 发布于 2004-12-28,并于 2004-12-28 实施。

KS C 6040-2004 在中国标准分类中归属于: L10 电子元件综合,在国际标准分类中归属于: 33.120.30 射频连接器。

KS C 6040-2004的历代版本如下:

  • 0000年 KS C 6040-2014(2019)
  • 2014年 KS C 6040-2014 电子设备连接器的试验方法
  • 2004年 KS C 6040-2004 电子设备用连接器试验法
  • 0000年 KS C 6040-1995

 

이 규격은 주로 전자 기기에 사용되는 커넥터 및 부속품의 시험 방법에 대하여 규정한다.

标准号
KS C 6040-2004
发布
2004年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS C 6040-2014
当前最新
KS C 6040-2014(2019)
 
 
被代替标准
KS C 6040-1995

KS C 6040-2004相似标准


推荐

国标委发布260项新国标,大多跟实验室相关

给水聚乙烯(PE)管道系统 第3部分:管件2018-10-0132GB/T 13663.5-2018给水聚乙烯(PE)管道系统 第5部分:系统适用性2018-10-0133GB/T 13772.2-2018纺织品 机织物接缝处纱线抗滑移的测定 第2部分:定负荷2018-10-0134GB/T 14571.2-2018工业乙二醇试验方法 第2部分:纯度和杂质的测定 气相色谱2018-10-0135GB...

新标 | 260项国家标准批准发布!

GB/T 11048-20082018/10/124GB/T 11313.15-2018射频连接器 第15部分:外导体内径为4.13mm(0.163in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器(SMA型)2018/10/125GB/T 11313.39-2018射频连接器 第39部分:CQM系列快速锁紧射频连接器分规范2018/10/126GB/T 12470-2018埋弧焊热强钢实心焊丝、...

关于接触电阻的测量方式介绍

  除毫欧计外,也可用伏-安计,安培-电位计。  在连接微弱信号电路中,设定的测试数条件对接触电阻检测结果有一定影响。因为接触表面会附有氧化层,油污或其他污染物,两接触件表面会产生膜层电阻。由于膜层为不良导体,随膜层厚度增加,接触电阻会迅速增大。膜层在高的接触压力下会机械击穿,或在高电压、大电流下会发生电击穿。...

10月开始实施的新规或将影响您的产品检测

GB/T 5095.2303-2021电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分:屏蔽和滤波试验 试验23c:连接器和附件的屏蔽效果 线注入GB/T 5095.2304-2021电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分:屏蔽和滤波试验 试验23d:时域内传输线的反射GB/T 5095.2307-2021电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分:屏蔽和滤波试验...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号