JIS B7440-5-2013
几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.第5部分:使用多针测试系统的坐标测量机(CMMs)

Geometrical product specifications (GPS).Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM).Part 5: CMMs using single and multiple stylus contacting probing systems

 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 JIS B7440-5-2013 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
JIS B7440-5-2013
发布日期
2013年10月21日
实施日期
废止日期
无
中国标准分类号
N13
国际标准分类号
17.040.30
发布单位
JP-JISC
引用标准
JIS B0641-1 JIS B7440-1 JIS B7440-2 ISO/IEC Guide 99
被代替标准
JIS B7440-5-2004
适用范围
This Standard specifies acceptance and periodic reverification tests of CMM performance with contacting probing systems and is only applicable to CMMs using —any type of contacting probing system, —a discrete point probing mode, and —spherical or hemispherical stylus tip(s).

JIS B7440-5-2013系列标准

JIS B7440-1-2003 几何图形产品规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和再验证试验.第1部分:词汇 JIS B7440-9-2017 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和复检试验. 第9部分: 带多重探测系统的CMM JIS B7440-2-2013 几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMMs)的验收和再验证试验.第2部分:尺寸测量用坐标测量机 JIS B7440-3-2003 几何图形产品规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和再验证试验.第3部分:以旋转台坐标轴作为第四轴的坐标测量机 JIS B7440-4-2003 几何图形产品规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和再验证试验.第4部分:扫描测量模式用坐标测量机 JIS B7440-6-2004 产品几何量技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.第6部分:高斯相关特性计算中的错误估计 JIS B7440-7-2015 几何产品技术规格 (GPS). 坐标测量机 (CMM) 的验收试验和复检试验. 第7部分: 配有成像探测系统的坐标测量机 (CMM) JIS B7440-8-2015 产品几何量技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.第8部分:带光学距离传感器的CMMs JIS B7440-9-2017 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和复检试验. 第9部分: 带多重探测系统的CMM

谁引用了JIS B7440-5-2013 更多引用

JIS B7440-2-2013 几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMMs)的验收和再验证试验.第2部分:尺寸测量用坐标测量机 JIS B7440-2-2013 几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMMs)的验收和再验证试验.第2部分:尺寸测量用坐标测量机


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号