JJF 1476-2014
表面轮廓表校准规范

Calibration Specification for Surface Profile Gauges


JJF 1476-2014封面图

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标准号
JJF 1476-2014
发布
2014年
发布单位
国家计量技术规范
当前最新
JJF 1476-2014
 
 
适用范围
本规范适用于分度值为0.002 mm和0.01 mm,分辨力为0.1 μm和1 μm,测量范围上限不大于6.5 mm表面轮廓表的校准。

JJF 1476-2014相似标准

BS EN ISO 5436-1:2001 产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓方法.测量标准.产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓方法校准.测量标准 KS B ISO 12179-2019 产品几何规范（GPS） 表面纹理：轮廓法 接触式（触针）仪器的校准 NF E05-056:2000 几何产品规范(GPS).表面结构:轮廓检测法.接触（触针）仪器的校准 ISO 12179:2021 产品几何技术规范（GPS）.表面结构:轮廓法.接触（触针）仪器的校准 DIN EN ISO 12179:2000 产品几何量规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针式)仪器的校准

JJF 1476-2014 中可能用到的仪器设备

工业显微镜/工具显微镜 显微镜附件 轮廓仪/粗糙度仪


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