在测厚仪下的测量偏差,红色曲线为补偿后的测量偏差。原始数据及补偿后数据如表1所示,经过补偿后,偏差在0.2%以内,满足产品测量精度要求。 4 X射线测厚仪的精度检验及厚度控制 X射线测厚仪作为在线测量厚度的精密仪器,为了保证其测量精度和可靠性,需要定期对其精度进行检验和校准。精度检验分为静态和动态两种。 静态检验是用已知厚度的试样放在测厚仪下进行测量,根据测量结果确定X射线测厚仪的状态。...
对某种金属镀层样品进行测量时,基于镀层厚度、状态的不同,所产生的荧光X射线的强度也不一样。镀层厚度测量时,可采用两种不同方法,一种是注重镀层中的元素所产生的荧光X射线强度,称为激发法。另一种是注重底材中的元素所产生的荧光X射线强度,称为吸收法。这两种方法的应用必需根据镀层和底材的不同组合来区分使用。镀层厚度测量时,测量已知厚度的标准样品而得到其厚度及产生的荧光X射线强度之间的关系,并做出标准曲线。...
x射线镀层测厚仪的工作原理: x射线镀层测厚仪是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。...
镀层测厚仪的工作原理: 镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国际标准中称为覆层(coating))。 镀层测厚仪的优点介绍: 1....
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