KS B 0506-1975
光干涉式表面粗糙度测定仪

Instruments for the Measurement of Surface Roughness by the Interferometric Method


KS B 0506-1975 中,可能用到以下仪器

 

上海物光 SGW®-820透光率雾度测定仪

上海物光 SGW®-820透光率雾度测定仪

上海臣莲生物科技发展有限公司

 

上海物光SGW®-810 透光率雾度测定仪

上海物光SGW®-810 透光率雾度测定仪

上海臣莲生物科技发展有限公司

 

优可测白光干涉仪-粗糙度检测

优可测白光干涉仪-粗糙度检测

板石智能科技(深圳)有限公司

 

DR3900 TOCTOC测定仪哈希 DR3900 台式分光光度计

DR3900 TOCTOC测定仪哈希 DR3900 台式分光光度计

哈希水质分析仪器(上海)有限公司

 

延迟线干涉仪 Kylia

延迟线干涉仪 Kylia

北京波威科技有限公司

 

标准号
KS B 0506-1975
发布
1975年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS B 0506-2016
当前最新
KS B 0506-2021
 
 
被代替标准
KS B 0506-1972
이 규격은 표준 반사면과 피측정면에 의하여 생기는 광파 간섭 무늬를 현미경으로 확대하여,

KS B 0506-1975相似标准


推荐


KS B 0506-1975 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号