SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
Measuring methods for semiconductor photocouplers
SJT2215-2015, SJ2215-2015
SJ/T 2215-2015 发布历史
SJ/T 2215-2015由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 2015-04-30，并于 2015-10-01 实施。
SJ/T 2215-2015 在中国标准分类中归属于: L50 光电子器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 SJ/T 2215-2015 。
SJ/T 2215-2015的历代版本如下：
- 2015年 SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
- 0000年 SJ/T 2215.14-1982
本标准规定了半导体光电耦合器(以下简称“器件”)的测试方法。本标准适用于半导体光电耦合器。
- 标准号
- SJ/T 2215-2015
- 别名
- SJT2215-2015
SJ2215-2015 - 发布
- 2015年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 2215-2015
- 被代替标准
- SJ/T 2215.1-1982 SJ/T 2215.2-1982 SJ/T 2215.3-1982 SJ/T 2215.4-1982 SJ/T 2215.5-1982 SJ/T 2215.6-1982 SJ/T 2215.7-1982 SJ/T 2215.8-1982 SJ/T 2215.9-1982 SJ/T 2215.10-1982 SJ/T 2215.11-1982 SJ/T 2215.12-1982 SJ/T 2215.13-1982 SJ/T 2215.14-1982
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