本标准规定了紫外焦平面探测器的参数测试方法。本标准适用于线列和面阵半导体焦平面探测器在200 nm~400 nm波段范围的参数测试。
GJB 8127-2013由国家军用标准-总装备部 CN-GJB-Z 发布于 2013-07-10,并于 2013-10-01 实施。
GJB 8127-2013 紫外焦平面探测器参数测试方法 于 1980 变更为 GOST 18758-1980 夹紧器.结构及尺寸。
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