IEC 60749-9:2017
半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

标准号

IEC 60749-9:2017

发布

2017年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC 60749-9:2017

 

 

被代替标准

IEC 47/2348/FDIS:2016 IEC 60749-9:2002 IEC 60749-9 CORR 1:2003

适用范围

IEC 60749 这一部分的目的是确定固态半导体器件上的标记在施加和去除标签或使用在去除助焊剂残留物过程中常用的溶剂和清洁溶液时是否仍保持清晰。印刷电路板制造过程。该测试适用于所有封装类型。它适用于资格和/或过程监控测试。该测试被认为是非破坏性的。电气或机械废品可用于此测试。注 1：此程序不适用于激光品牌封装。许多可用的溶剂要么活性不够，要么过于严格，甚至在直接接触或吸入烟雾时对人体有害。注 2：就通常的涂层和标记而言，本文件中使用的溶剂成分被认为是典型的并代表了所需的严格性。

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