BS ISO 25498:2018
微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
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- 标准号
- BS ISO 25498:2018
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS ISO 25498:2018
- 引用标准
- ASTM E3-11 ISO 15932:2013 ISO/IEC 17025
- 被代替标准
- BS ISO 25498:2010
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