BS IEC 63003-2015
使用IEEE标准1505TM的高密度单层次电子试验要求的通用试验接口针标地图配置标准

Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505TM

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标准号

BS IEC 63003-2015

发布日期

2016年01月31日

实施日期

2016年01月31日

废止日期

无

中国标准分类号

N10

国际标准分类号

25.040.01

发布单位

GB-BSI

引用标准

IEEE Std 1505-2006 EIA/ECA-310-E-2005 IEEE/ASTM SI 10-2002 IEEE 100 IEEE Std 260.1-2004 IEEE Std 260.3-1993 IEEE Std 280-1982 IEEE Std 315-1975 IEEE Std 945-1984 IEEE Std 991-1986 IEEE Std 1014-1987 IEEE Std 1149. 1-2001 MIL-C-83733 MIL-DTL-55302/179-180