IEC 62899-503-3:2021
印刷电子-第 503-3 部分：质量评估-印刷薄膜晶体管接触电阻的测量方法-转移长度法
Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
- 标准号
- IEC 62899-503-3:2021
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62899-503-3:2021
- 代替标准
- IEC 119/359/FDIS:2021
- 适用范围
- IEC 62899的这一部分规定了通过传输长度法（TLM）测量印刷薄膜晶体管（TFT）接触电阻的方法。该方法需要制造源极和漏极电子之间具有不同沟道长度 (L) 的测试元件组 (TEG)
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