LAYERTEC利用扫描探针显微镜(原子力显微镜,AFM),其测量范围在10纳米到1微米之间,用于控制表面粗糙度值低于Sq≤5Å的特殊抛光过程,并可根据要求提供检验报告。LAYERTEC已开发出一种自动化测量系统,用于检测和分析光学表面上的缺陷和划痕。该系统使LAYERTEC能够根据ISO 10110-7对缺陷大小进行分类。...
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