EN ISO 13383-2:2016
精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第2部分:利用显微照片评价法的相体积分数测量

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Microstructural characterization - Part 2: Determination of phase volume fraction by evaluation of micrographs (ISO 13383-2:2012)

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标准号

EN ISO 13383-2:2016

发布

2016年

发布单位

欧洲标准化委员会

当前最新

EN ISO 13383-2:2016

 

 

引用标准

EN 1006:2009 FEPA 42-GB-1984 FEPA 43-GB-1984 ISO 6106:2013 ISO 8486-1:1996 ISO 8486-2:2007 ISO/IEC 17025:2005

被代替标准

FprEN ISO 13383-2:2015

适用范围

ISO 13383 的这一部分规定了一种手动测量方法，通过覆盖抛光和蚀刻横截面显微照片的方形网格并计算每个相上网格线交叉的数量来确定高级陶瓷中主相的体积分数。 注 1：该方法假设根据体视学原理，相的实际体积分数对应于随机确定的横截面上存在的面积分数。 注 2：高级陶瓷抛光和蚀刻指南可参见 ISO 13383-1:2012，附录 A 和 B。 该方法适用于具有一种或多种可清晰识别的第二相的陶瓷材料，例如陶瓷材料。 B. 在 Al2O3/ZrO2、Si/SiC 或 Al2O3/SiCw 中。 如果测试材料含有离散的孔，则出于此程序的目的，它们可以被视为第二相，除非有证据表明颗粒在抛光过程中破裂，这可能与真正的孔相混淆。 注 3：如果材料的孔隙率大于约 20%，则抛光过程中微观结构损坏的风险很高，并且空隙率测量可能会产生误导。 确定小于 0.05 的第二相体积分数或孔隙体积分数的结果可能表现出显着的误差并可能分散。 为了提高结果的一致性和准确性，通常必须评估比通常数量更多的至少三张显微照片。 注 4：许多陶瓷含有少量玻璃状次生相。 为了正确估计玻璃相含量，玻璃质材料应易于在晶粒之间辨别，因此最小宽度为 0.5 m。 ISO 13383 本部分中描述的方法被认为不适用于排列在颗粒周围的薄层玻璃。 注 5：微观结构很少是均匀的，并且不同的显微照片中可能存在不同的相分数。 重要的是要检查准备好的横截面的足够大的区域，以确保选择不包含任何明显不规则现象的代表性区域进行评估。 该方法假设准备好的横截面的选定区域在统计上代表了取样的整个横截面。 ISO 13383 这部分的一些用户可能希望对显微照片或直接显示的显微照片应用自动或半自动图像分析。 目前这不在本部分的范围内，但附录 A 中给出了一些指导。

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