Energiespektrum der Polplatte

Für die Energiespektrum der Polplatte gibt es insgesamt 25 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Energiespektrum der Polplatte die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Umweltschutz, Wortschatz, Prüfung von Metallmaterialien.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Energiespektrum der Polplatte

GB/T 32264-2015 Methode zur Leistungsprüfung der Gaschromatographie-Einzelquadrupol-Massenspektrometrie
GB/T 25188-2010 Dickenmessungen für ultradünne Siliziumoxidschichten auf Siliziumwafern. Röntgenphotoelektronenspektroskopie
GB/T 32281-2015 Testmethode zur Messung von Sauerstoff, Kohlenstoff, Bor und Phosphor in Solarsiliziumwafern und -rohstoffen. Sekundärionen-Massenspektrometrie

Defense Logistics Agency, Energiespektrum der Polplatte

DLA SMD-5962-88605 REV B-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLARER HOCHLEISTUNGS-10-BIT-PUFFER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88605 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLARER HOCHLEISTUNGS-10-BIT-PUFFER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89925 REV B-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, NIEDRIGER LEISTUNGSSCHOTTKY, TTL, HEX-D-TYP-FLIP-FLOPS MIT ENABLE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-PRF-19500/694 A VALID NOTICE 1-2008 Halbleiterbauelement, Transistor, Kunststoff, NPN, Silizium, Schalten, Typ 2N3700UE1, JAN, JANTX, JANJ
DLA SMD-5962-90910 REV B-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, ADVANCE SCHOTTKY, TTL, OKTAL, KANTENGESTEUERTES D-TYP-FLIP-FLOP MIT TAKTFREIGABE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92314 REV D-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, OKTAL-VERRIEGELTER TRANSCEIVER MIT DUAL-ENABLE, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-93148 REV B-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, OKTAL-EDGE-GETriggerter D-TYP-FLIP-FLOP MIT TAKTFREIGABE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-93148 REV C-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, OKTAL-EDGE-GETriggerter D-TYP-FLIP-FLOP MIT TAKTFREIGABE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96849 REV B-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, REGISTRIERTER 3,3-V-16-BIT-TRANSCEIVER MIT BUS-HALTEN, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95642 REV D-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-Volt-OKTAL-BUS-TRANSCEIVER MIT BUS-HALTEN, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96685 REV D-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-16-BIT-PUFFER/TREIBER MIT BUS-HALTEN, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96810 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-VOLT-16-BIT-TRANSPARENTER D-TYP-LATCH MIT BUS-HALTUNG, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE UND TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-95647 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BICMOS, 3,3 V 16-BIT EDGE-GETriggerter D-TYP-FLIPFLOPS MIT BUS-HALTEN, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN UND TTL-KOMPATIBELEN EINGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Energiespektrum der Polplatte

GB/T 35410-2017 Methode zur Leistungsprüfung der Flüssigkeitschromatographie-Tandem-Quadrupol-Massenspektrometrie
GB/T 34826-2017 Methode zur Leistungsprüfung eines Quadrupol-Massenspektrometers mit induktiv gekoppeltem Plasma

AT-ON, Energiespektrum der Polplatte

ONORM EN 28092-2-1992 Straßenfahrzeuge – Fiat, Schnellanschlüsse – Tests und Leistungsanforderungen für einpolige Anschlüsse

RU-GOST R, Energiespektrum der Polplatte

GOST 33400-2015 Prüfung umweltgefährdender Chemikalien. Bestimmung der Komplexbildungsfähigkeit in Wasser (polarographische Methode)
GOST R 59463-2021 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. Teil 4-6. Elektroden-Nanomaterialien für elektrische Energiespeicher. Bestimmung des Kohlenstoffgehalts mittels Infrarotspektroskopie

Professional Standard - Environmental Protection, Energiespektrum der Polplatte

HJ 1149-2020 Bestimmung von Gammaradionukliden im Umgebungsluftaerosol mittels Filtermembranpressung/Gammaspektrometrie

Danish Standards Foundation, Energiespektrum der Polplatte

DS/EN 28 092-2:1992 Straßenfahrzeuge – Flache Schnellsteckanschlüsse – Teil 2: Prüf- und Leistungsanforderungen für einpolige Anschlüsse

Association Francaise de Normalisation, Energiespektrum der Polplatte

NF R13-440:1992 Straßenfahrzeuge. Flache Schnellanschlussanschlüsse. Teil 2: Prüfungen und Leistungsanforderungen für einpolige Verbindungen.

International Organization for Standardization (ISO), Energiespektrum der Polplatte

ISO 19668:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Schätzung und Meldung von Nachweisgrenzen für Elemente in homogenen Materialien