anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

Für die anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential gibt es insgesamt 310 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential die folgenden Kategorien: Wasserqualität, Bodenqualität, Bodenkunde, Kraftwerk umfassend, analytische Chemie, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Nichteisenmetalle, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Speiseöle und -fette, Ölsaaten, Desinfektion und Sterilisation, Energie- und Wärmeübertragungstechnik umfassend, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Luftqualität, Wortschatz, Umweltschutz, Anorganische Chemie, Obst, Gemüse und deren Produkte, Glas, Nichteisenmetallprodukte, Kernenergietechnik, Kraftstoff, Metallkorrosion, Ferrolegierung, Erdgas, Metrologie und Messsynthese, Drahtlose Kommunikation, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Elektronische Geräte, Chemikalien, Diskrete Halbleitergeräte, Prüfung von Metallmaterialien.

Professional Standard - Water Conservancy, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

SL 94-1994 Bestimmung des Oxidations-Reduktionspotentials (elektrometrische Methode)

Professional Standard - Environmental Protection, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

HJ 746-2015 Boden – Bestimmung des Redoxpotenzials – Potenzialmethode
HJ/T 46-1999 Technische Bedingungen des Detektors der Schwefeldioxidkonzentration für die Elektrolysemethode mit konstantem Potential
HJ 693-2014 Emission aus stationären Quellen.Bestimmung von Stickoxiden.Festes Potential durch Elektrolysemethode
HJ 57-2017 Emission aus stationären Quellen – Bestimmung von Schwefeldioxid – Festpotential durch Elektrolysemethode
HJ 973-2018 Bestimmung von Kohlenmonoxid in Abgasen aus festen Schadstoffquellen Elektrolyse mit konstantem Potenzial
HJ/T 57-2000 Bestimmung von Schwefeldioxid aus Abgasen einer stationären Quelle. Elektrolyseverfahren mit festem Potential

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

KS C IEC 60746-5-2014(2019) Ausdruck der Leistung elektrochemischer Analysatoren – Teil 5: Oxidations-Reduktionspotential oder Redoxpotential
KS I ISO 11271-2016(2021) Bodenqualität – Bestimmung des Redoxpotentials – Feldmethode
KS D ISO 2376:2012 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotentials
KS D ISO 2376:2013 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotentials
KS B ISO 10156:2018 Gasflaschen – Gase und Gasgemische – Bestimmung des Brandpotenzials und der Oxidationsfähigkeit für die Auswahl von Flaschenventilausgängen

German Institute for Standardization, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

DIN IEC 60746-5:1996-07 Leistungsausdruck elektrochemischer Analysatoren – Teil 5: Oxidations-Reduktionspotential oder Redoxpotential (IEC 60746-5:1992)
DIN ISO 11271:2022-11 Bodenqualität – Bestimmung des Redoxpotentials – Feldmethode (ISO 11271:2022); Text in Deutsch und Englisch / Hinweis: Ausgabedatum 14.10.2022*Gedacht als Ersatz für DIN ISO 11271 (2003-03).
DIN EN ISO 27107:2010-08 Tierische und pflanzliche Fette und Öle – Bestimmung des Peroxidwerts – Potentiometrische Endpunktbestimmung (ISO 27107:2008, korrigierte Fassung 2009-05-15); Deutsche Fassung EN ISO 27107:2010
DIN ISO 11271:2023-11 Bodenqualität – Bestimmung des Redoxpotentials – Feldmethode (ISO 11271:2022)
DIN ISO 11271:2003-03 Bodenbeschaffenheit – Bestimmung des Redoxpotentials – Feldmethode (ISO 11271:2002) / Hinweis: Wird durch DIN ISO 11271 (2022-11) ersetzt.
DIN 38404-6:1984-05 Deutsche Einheitsverfahren zur Untersuchung von Wasser, Abwasser und Schlamm; physikalische und physikalisch-chemische Parameter (Gruppe C); Bestimmung des Oxidations-Reduktions-(Redox-)Potentials (C 6)
DIN 38404-6 Berichtigung 1:2018-12 Deutsche Einheitsverfahren zur Untersuchung von Wasser, Abwasser und Schlamm - Physikalische und physikalisch-chemische Parameter (Gruppe C) - Teil 6: Bestimmung des Oxidations-Reduktions-(Redox-)Potentials (C 6); Berichtigung 1

VN-TCVN, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

TCVN 7594-2006 Bodenqualität.Bestimmung des Redoxpotentials.Feldmethode

Professional Standard - Electricity, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

DL/T 1480-2015 Prüfverfahren für das Redoxpotential von Wasser

GOSTR, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

GOST R 59012-2020 Steinkohle. Bestimmung der Oxidation durch potentiometrische Titration

KR-KS, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

KS I ISO 11271-2016 Bodenqualität – Bestimmung des Redoxpotentials – Feldmethode
KS D ISO 2376-2012 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotenzials
KS B ISO 10156-2018 Gasflaschen – Gase und Gasgemische – Bestimmung des Brandpotenzials und der Oxidationsfähigkeit für die Auswahl von Flaschenventilausgängen

PL-PKN, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

PN T06513-02-1990 Messung des Redoxpotentialwerts Industrielle Analysegeräte
PN T06513-03-1989 Redoxpotentialwert Labormessgeräte Allgemeine Anforderungen und Prüfungen
PN Z04005-04-1987 Luftreinheitsschutz Tests auf Alkalien Bestimmung von Kaliumhydroxid an Arbeitsplätzen mittels potentiometrischer Methode

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

GB/T 20245.5-2013 Ausdruck der Leistung elektrochemischer Analysatoren. Teil 5: Oxidations-Reduktionspotential oder Redoxpotential
GB/T 8754-2006 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen. Isolationsprüfung durch Messung des Durchschlagpotentials
GB 28234-2011 Sicherheits- und Hygienestandard für den Generator von saurem elektrolysiertem und oxidierendem Wasser
GB 21346-2022 Die Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit aus elektrolytischem Aluminium und Aluminiumoxid
GB 8754-1988 Methode zur Messung des Durchschlagspotenzials der anodischen Oxidation von Aluminium und Aluminiumlegierungen zur Prüfung der Isolierung
GB/T 11064.3-2013 Methoden zur chemischen Analyse von Lithiumcarbonat, Lithiumhydroxid-Monohydrat und Lithiumchlorid. Teil 3: Bestimmung des Lithiumchloridgehalts. Potentiometrische Methode
GB/T 5686.1-2008 Ferromangan, Ferromangan-Silizium, stickstoffhaltiges Ferromangan und Manganmetall. Bestimmung des Mangangehalts. Potentiometrische Methode und titrimetrische Methode nach Ammoniumnitrat- und Perchlorsäureoxidation
GB/T 5686.1-2022 Ferromangan, Ferromangan-Silizium, stickstoffhaltiges Ferromangan- und Manganmetall – Bestimmung des Mangangehalts – Potentiometrische Methode, titrimetrische Methode nach Ammoniumnitratoxidation
GB/T 11060.6-2011 Erdgas.Bestimmung von Schwefelverbindungen.Teil 6: Bestimmung von Schwefelwasserstoff, Mercaptanschwefel und Carbonylsulfidschwefel mittels Potentiometer
GB/T 7730.1-2002 Ferromangan und Hochofenferromangan – Bestimmung des Mangangehalts – Potentiometrische Methode und titrimetrische Methode nach Ammoniumnitratoxidation
GB/T 4699.2-2008 Ferrochrom und Ferrosilicochrom. Bestimmung des Chromgehalts. Die titrimetrische Methode der Ammoniumpersulfatoxidation und die potentiometrische Titrationsmethode

Group Standards of the People's Republic of China, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

T/ZSZJX 006-2020 Wasserqualität – Bestimmung des chemischen Sauerstoffbedarfs – Potentiometrische Titration
T/HATSI 0022-2023 Technische Spezifikation für die Bewertung umweltfreundlicher Produkte – Desinfektionsmittel mit hohem Oxidationspotenzial und Hypochlorit

American Society for Testing and Materials (ASTM), anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

ASTM D1498-14(2022)e1 Standardtestmethode für das Oxidations-Reduktions-Potenzial von Wasser
ASTM UOP291-15 Gesamtchlorid in Aluminiumoxid- und Siliciumdioxid-Aluminiumoxid-Katalysatoren durch Mikrowellenaufschluss und potentiometrische Titration
ASTM D1498-14 Standardtestmethode für das Oxidations-Reduktions-Potenzial von Wasser
ASTM D1498-08 Standardtestmethode für das Oxidations-Reduktions-Potenzial von Wasser
ASTM G200-09 Standardtestmethode zur Messung des Oxidations-Reduktionspotentials (ORP) von Böden
ASTM G200-20 Standardtestmethode zur Messung des Oxidations-Reduktionspotentials (ORP) von Böden
ASTM G200-09(2014) Standardtestmethode zur Messung des Oxidations-Reduktionspotentials 40;ORP41; des Bodens
ASTM D873-02(2007) Standardtestmethode für die Oxidationsstabilität von Flugkraftstoffen (Potentialrückstandsmethode)
ASTM D873-12(2018) Standardtestmethode für die Oxidationsstabilität von Flugkraftstoffen (Potentialrückstandsmethode)
ASTM UOP291-13 Gesamtchlorid in Aluminiumoxid- und Siliciumdioxid-Aluminiumoxid-Katalysatoren durch Mikrowellenaufschluss und potentiometrische Titration
ASTM D3610-00 Standardtestmethode für Gesamtkobalt in Kobalt-Molybdän-Katalysatoren auf Aluminiumoxidbasis durch potentiometrische Titrationsmethode
ASTM D3610-00(2004) Standardtestmethode für Gesamtkobalt in Kobalt-Molybdän-Katalysatoren auf Aluminiumoxidbasis durch potentiometrische Titrationsmethode
ASTM D3610-22 Standardtestmethode für Gesamtkobalt in Kobalt-Molybdän-Katalysatoren auf Aluminiumoxidbasis durch potentiometrische Titrationsmethode
ASTM D3610-00(2015) Standardtestmethode für Gesamtkobalt in Kobalt-Molybdän-Katalysatoren auf Aluminiumoxidbasis durch potentiometrische Titrationsmethode
ASTM D3610-00(2010) Standardtestmethode für Gesamtkobalt in Kobalt-Molybdän-Katalysatoren auf Aluminiumoxidbasis durch potentiometrische Titrationsmethode
ASTM F616M-96 Standardtestmethode zur Messung des MOSFET-Drain-Leckstroms (metrisch)
ASTM F616M-96(2003) Standardtestmethode zur Messung des MOSFET-Drain-Leckstroms (metrisch)
ASTM C1413-05 Standardtestmethode für die Isotopenanalyse von hydrolysierten Uranhexafluorid- und Uranylnitratlösungen durch thermische Ionisationsmassenspektrometrie
ASTM E18-08 Standardtestmethoden für die Rockwell-Härte metallischer Materialien
ASTM E1899-97 Standardtestmethode für Hydroxylgruppen unter Verwendung der Reaktion mit p-Toluolsulfonylisocyanat (TSI) und der potentiometrischen Titration mit Tetrabutylammoniumhydroxid
ASTM E18-08a Standardtestmethoden für die Rockwell-Härte metallischer Materialien
ASTM E1899-23 Standardtestmethode für Hydroxylgruppen unter Verwendung der Reaktion mit p-Toluolsulfonylisocyanat (TSI) und der potentiometrischen Titration mit Tetrabutylammoniumhydroxid

British Standards Institution (BSI), anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

BS EN ISO 2376:2010 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen. Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotentials
BS ISO 11271:2022 Bodenqualität. Bestimmung des Redoxpotentials. Feldmethode
BS EN ISO 27107:2008 Tierische und pflanzliche Fette und Öle – Bestimmung der Peroxidzahl – Potentiometrische Endpunktbestimmung
BS ISO 15158:2014 Korrosion von Metallen und Legierungen. Methode zur Messung des Lochfraßpotentials für rostfreie Stähle durch potentiodynamische Kontrolle in Natriumchloridlösung
BS 2000-138:2002 Prüfmethoden für Erdöl und seine Produkte. Bestimmung der Oxidationsstabilität von Flugkraftstoff. Methode mit potenziellen Rückständen
BS EN 15168:2006 Oberflächenaktive Stoffe – Bestimmung der Hydroxylzahl – p-Toluensulfonylisocyanat (TSI)-Methode und potentiometrische Titration mit Tetrabutylammoniumhydroxid

Danish Standards Foundation, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

DS/EN ISO 2376:2010 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotentials
DS/ISO 11271:2004 Bodenqualität – Bestimmung des Redoxpotentials – Feldmethode
DS/EN ISO 27107:2010 Tierische und pflanzliche Fette und Öle – Bestimmung des Peroxidwerts – Potentiometrische Endpunktbestimmung (ISO 27107:2008, korrigierte Fassung 2009-05-15)
DS/EN 15168:2007 Oberflächenaktive Stoffe – Bestimmung der Hydroxylzahl – p-Toluensulfonylisocyanat (TSI)-Methode und potentiometrische Titration mit Tetrabutylammoniumhydroxid

Defense Logistics Agency, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

DLA SMD-5962-94532-1994 MIKROSCHALTUNG, CMOS, 64-BIT-MIKROPROZESSOR
DLA SMD-5962-86706 REV C-2010 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, BIPOLAR, 1K x 8-Bit, REGISTRIERTER PROM MIT PROGRAMMIERBARER INITIALISIERUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94533-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 32-BIT-MIKROPROZESSOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-87763 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, DUAL 12-BIT, DIGITAL-ANALOG-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-79012 REV A-1986 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, CMOS, STATISCHES VERSCHIEBUNGSREGISTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-79014 REV B-1987 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, HEX-INVERTER-PUFFER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89711 REV B-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS 64-BIT-AUSGANGSKORRELATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89982 REV B-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CHMOS, 16-BIT-MIKROCONTROLLER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92331-1993 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, KOORDINATENTRANSFORMATOR, 16X16 BIT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90678 REV A-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT, MIKROPROZESSOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84088 REV D-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, DUAL-JK-FLIP-FLOP MIT SET UND RESET, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89446-1991 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 8-BIT-VERSCHIEBUNGSREGISTER MIT VARIABLER LÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94537-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 8-BIT-SPEICHERVERARBEITUNGSEINHEIT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89959 REV C-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT-KASKADIERBARES ALU, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93260 REV B-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 12 x 10-BIT-MATRIX-MULTIPLIKATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89462 REV B-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 16-BIT- UND 8/16-BIT-MIKROPROZESSOR MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96683-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTETES CMOS, 4-BIT-ARITHMETISCHE LOGIKEINHEIT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84150 REV E-2002 MIKROSCHALTER, DIGITAL, HIGH-SPEED-CMOS, DUAL-JK-FLIP-FLOP MIT SET UND RESET, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89731-1989 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, SCHNELL, CMOS, 8-BIT-TRANSCEIVER MIT PARITÄT, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88778 REV A-2002 Mikroschaltkreis, CMOS, 12-Bit-gepufferte Multiplikation, Digital-Analog-Konverter, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-84067 REV D-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, OKTAL-VERRIEGELTER BUSTREIBER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-77056-1977 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, CMOS, HEX, OPEN DRAIN, N-KANAL-PUFFER
DLA SMD-5962-89616 REV C-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS 8-BIT A/D-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89674 REV C-2001 Mikroschaltkreise, linear, CMOS, 14 Bit, Analog-Digital-Wandler, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-89676 REV C-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, 16-BIT, ANALOG-DIGITAL-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89679 REV B-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS 12-BIT ANALOG-DIGITAL-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93150 REV A-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 96-BIT-FLOATING-POINT-DUAL-PORT-PROZESSOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93179 REV B-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, A/D-KONVERTER, 12-BIT, CMOS, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84091 REV F-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, HEX-INVERTIERENDER SCHMITT-TRIGGER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89772-1992 Mikroschaltkreis, CHMOS, 16-Bit-Mikrocontroller mit externem 8-Bit- oder 16-Bit-Bus, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-79016 REV B-1992 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 1-BIS-64-BIT-VERSCHIEBUNGSREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-94542-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 32-BIT-KOPROZESSOR FÜR LOKALES NETZWERK, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89665-1989 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELL, CMOS, 9-BIT-BREITGEPUFFERTE REGISTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88501 REV G-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT-MIKROPROZESSOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88612 REV A-1990 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT-MIKROPROZESSOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93105 REV C-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 32-BIT-MIKROPROZESSOR MIT HOHER INTEGRATION, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93170 REV A-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 8-16 BIT PARALLELSCHNITTSTELLE/TIMER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90512-1992 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HMOS, 8-BIT-MIKROCOMPUTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84073 REV G-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HEX-D-TYP-FLIP-FLOP MIT HEX-D-TYP UND KLAREM, MONOLITHISCHEM SILIKON
DLA SMD-5962-90501 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, 8-BIT SERIELLER/PARALLEL-EIN, SERIELLER AUSGANG-SHIFT-REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-82022 REV A-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, HEX D FLIP-FLOP, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89596 REV D-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, NMOS, 16-BIT-MIKROCONTROLLER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94523 REV A-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16 x 16 BIT PARALLELMULTIPLIKATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94564-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 24-BIT ALLGEMEINER DIGITALER SIGNALPROZESSOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89653 REV A-1991 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, 8-BIT-VIDEO-D/A-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89655 REV B-2004 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, 12-BIT-CMOS, SCHNELLER A/D-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89657 REV B-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, DUAL, CMOS, 12-BIT, D/A-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94608-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 12-BIT KASKADIERBARER MULTIPLIER-SOMMER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88543 REV C-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELLES CMOS, 8-BIT-IDENTITÄTSKomparator, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88568-1988 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, NMOS, EINZELKOMPONENTEN, 8-BIT-MIKROCOMPUTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92317 REV E-2000 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, OKTAL-PI-BUS-TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88743 REV B-1991 MIKROSCHALTUNGEN, LINEAR, 8-BIT-CMOS-FLASH-A/D-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-87806 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, 8-BIT-UNIVERSAL-SCHIEBEREGISTER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88765 REV B-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, MIKROPROZESSOR-KOMPATIBEL, DUAL 12-BIT-DIGITAL-ANALOG-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-86010 REV C-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, UNGEPUFFERTER HEX-INVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94574 REV A-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 8-BIT TTL/BTL REGISTRIERTER TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89707-1989 MIKROKREISE, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, BCD-DEKADENZÄHLER, SYNCHRONER RESET, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93156 REV B-2000 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, SPEICHER, DIGITAL, STATISCHER RANDOM-ACCESS-SPEICHER, CMOS, 128K X 8-BIT
DLA SMD-5962-93187 REV L-2007 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, DIGITAL, STATISCHER RANDOM-ACCESS-SPEICHER, CMOS, 128K X 32-BIT
DLA SMD-5962-89517 REV A-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT-SCHEIBEN-MIKROPROZESSOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89967 REV A-2007 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, REGISTRIERTER 8K X 8-BIT PROM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-77031 REV A-1979 MIKROKREISE, DIGITAL, CMOS, 14-STUFIGER RIPPLE-CARRY-BINÄRZÄHLER/TEILER UND OSZILLATOR
DLA SMD-5962-93262 REV D-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, 6-BIT-FLASH-A/D-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89747 REV B-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, HEX-INVERTER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89777 REV C-2007 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, 8-BIT-A/D-FLASH, KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92201 REV A-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, NEUN-BIT-PARITÄTSGENERATOR/CHECKER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88574 REV A-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HCMOS 8-EINGÄNGE, NOR/OR-GATE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88595 REV A-1989 MIKROKREISE, DIGITAL, NMOS, 256 x 4 STATISCHER RAM (SRAM) MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90553 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 8-BIT SYNCHRONER BINÄR-ABWÄRTSZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-86862 REV B-1989 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, SCHNELLES CMOS, UNIVERSAL SHIFT REGISTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89481 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, 12-BIT, MULTIPLIZIERENDER D/A-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89512 REV D-1995 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 56-BIT DIGITALER SIGNALPROZESSOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89702 REV A-2005 MIKROKREIS, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, DUAL JK FLIP-FLOP MIT SET UND RESET, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89704 REV B-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 8-BIT SERIELLES IN/PARALLEL OUT SHIFT REGISTER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89741-1990 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 8-BIT-SCHIEBEREGISTER MIT I/P-LATCH, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-87808 REV A-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 4-BIT SYNCHRONER AUF/AB-DEKADENZÄHLER MIT ASYNCHRONEM RESET, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89436 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, 8-BIT-UNIVERSAL-SCHIEBEREGISTER MIT TRI-STATE-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89590 REV A-1994 MIKROKREISE, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, 512 x 8 BIT SERIELLER EEPROM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-85001 REV D-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, HEX-PUFFER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-85002 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, HEX-PUFFER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94611 REV R-2004 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, SPEICHER, DIGITAL, 512K X 32-BIT, STATISCHER RANDOM-ACCESS-SPEICHER, CMOS
DLA SMD-5962-89953 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, DOPPELTES 4-STUFEN-SCHIEBEREGISTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88533 REV C-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, FEHLERERKENNUNGS- UND KORREKTUREINHEIT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90590 REV B-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, HEX-WECHSELRICHTER MIT OFFENEN DRAIN-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-86816 REV C-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 8-BIT-SCHIEBEREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-86817 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 8-BIT-SCHIEBEREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88733 REV D-1997 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16 X 16 BIT MULTIPLIERER, AKKUMULATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89518 REV A-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, 8-BIT, A/D-KONVERTER MIT TRACK/HOLD, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89533-1989 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELL, CMOS, 10-BIT NICHTINVERTIERENDER TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94527 REV E-2004 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, QUAD, SERIELLE SCHNITTSTELLE, 8-BIT-D/A-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89946 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 4-BIT SYNCHRONER DEKADEN-AUF-/ABZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88613 REV B-1991 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT-FEHLERERKENNUNGS- UND -KORREKTUREINHEIT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93157 REV G-2002 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, HYBRID UND MONOLITHISCH, DIGITAL, STATISCHER RANDOM-ACCESS-SPEICHER, CMOS, 256K X 8-BIT
DLA SMD-5962-93239 REV B-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, SCAN-Pfad-Linker mit 4-Bit-ID-Bus, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-89534 REV C-1991 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, CMOS, 80-BIT-NUMERISCHE PROZESSOR-ERWEITERUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89743 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, HEX-D-TYP-FLIP-FLOP MIT RESET, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96668 REV B-2000 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTETES CMOS, DOPPELTES 64-STUFIGES STATISCHES VERSCHIEBUNGSREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-84074 REV E-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, INVERTIERENDER OKTALPUFFER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-81017 REV G-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 4-BIT-PARALLEL-IN/PARALLEL-OUT-VERSCHIEBUNGSREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-84096 REV G-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HIGH-SPEED-CMOS, OKTAL-PUFFER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84099 REV G-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, OKTAL, D-TYP-FLIP-FLOP MIT KLAREM, MONOLITHISCHEM SILIZIUM
DLA SMD-5962-84155 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, OKTAL-PUFFER-GATES MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89852 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 8-BIT ADRESSIERBARER LATCH, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89989-1990 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, OKTAL-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88594 REV C-2006 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, 256 x 4 STATISCHER RAM (SRAM), MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88608 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELL, CMOS, 10-BIT-NICHTINVERTIERENDES REGISTER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88656 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELLES CMOS, NICHT INVERTIERENDES 9-BIT-REGISTER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88661-1989 MIKROSCHALTUNG, DIGITALER, SCHNELLER CMOS-9-BIT-NICHTINVERTIERENDER BUS-TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92197 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, OKTALER BIDIREKTIONALER TRANSCEIVER MIT 8-BIT-PARITÄTSGENERATOR/CHECKER, DREISTATUS-AUSGÄNGE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89614 REV F-2003 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, 128K X 8-BIT UVEPROM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84089 REV D-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HIGH-SPEED-CMOS, QUAD-D-TYP-FLIP-FLOP, MIT KLAREM MONOLITHISCHEM SILIKON
DLA SMD-5962-77025 REV J-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 8-STUFIGES SHIFT REGISTER/LATCH MIT DREI-ZUSTANDSAUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89671 REV B-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, DUAL 12-BIT GEPUFFERTER VERVIELFACHTER CMOS-D/A-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92177 REV B-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, 8-BIT BIDIREKTIONALER TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90692 REV C-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT-MIKROCONTROLLER MIT ON-CHIP-EPROM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-05214 REV A-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, STRAHLENGEHÄRTETER, PROGRAMMIERBARER SKEW-TAKTPUFFER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-84072 REV F-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HIGH-SPEED-CMOS, OKTAL-TRANSPARENTE D-TYP-LATCHES MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84162 REV D-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 8-BIT SERIELLER EIN/PARALLEL AUSGANG SHIFT REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89672 REV A-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, DUAL 12-BIT, DOPPELGEPUFFTER MULTIPLIZIERENDES CMOS, DIGITAL-ANALOG-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89682 REV A-1999 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, ADVANCED CMOS, OKTALER TRANSCEIVER/REGISTER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89732-1989 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, SCHNELL, CMOS, OKTAL-PUFFER/LEITUNGSTREIBER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGANG, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-87756 REV D-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, OKTAL-D-TYP-FLIP-FLOP MIT MASTER-RESET, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89951-1990 MIKROSCHALTUNGEN, SPEICHER, DIGITAL, NMOS 256 X 4 BIT, NICHTFLÜCHTIGER STATISCHER RAM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92345 REV B-2001 MIKROSCHALTUNG, CMOS, 12-BIT, SERIELLER EINGANG, MULTIPLIZIERUNG, DIGITAL-ANALOG-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-86826 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, 4-BIT BIDIREKTIONALES UNIVERSAL-SCHIEBEREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92333 REV C-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 8-BIT-EPROM-MIKROCONTROLLER MIT 10-BIT-A/D, CAPTIVE/VERGLEICHS-TIMER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92209 REV C-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELLES CMOS, 4-BIT-VOREINSTELLBARER BINÄRZÄHLER MIT ASYNCHRONEM RESET, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE UND BEGRENZTER AUSGANGSSPANNUNGSSCHWINGUNG, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89484 REV A-2007 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, REGISTRIERTES 8K X 8-BIT UVEPROM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84075 REV E-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 4-BIT SYNCHRONER BINÄRZÄHLER MIT ASYNCHRONEM, KLAREM, MONOLITHISCHEM SILIZIUM
DLA SMD-5962-84095 REV C-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 8-BIT PARALLEL-IN SERIAL-OUT SHIFT REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89947 REV A-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, 12-STUFIGER BINÄRZÄHLER MIT RIPPLE-CARRY, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-90705-1991 MIKROKREISE, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, BCD-DEKADENZÄHLER, ASYNCHRONER RESET, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93166 REV B-2007 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, LEISTUNGSGESCHALTET, 32K x 8-BIT PROM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89519 REV F-1998 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT-MIKROPROZESSOR, MIL-STD-1750-ANLEITUNGSSATZ-ARCHITEKTUR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-86071 REV C-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, TTL, SHIFT REGISTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84071 REV G-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, DREI-ZUSTANDS-OKTAL-D-TYP-FLIP-FLOP, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89849 REV A-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, OKTAL-D-TYP-FLIP-FLOP, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-90574-1990 MIKROKREISE, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, 8-BIT SYNCHRONER BCD-ABWÄRTSZÄHLER, TTL, KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88650 REV A-1996 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, 8-BIT, MIKROPROZESSOR-KOMPATIBEL, A/D-KONVERTER MIT TRACK/HOLD, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93175 REV B-1999 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 16-BIT-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-93244-1993 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS 512K X 8 BIT 5-VOLT-PROGRAMMIER-EEPROM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88556 REV A-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, ANALOGER MULTIPLEXER/DEMULTIPLEXER, DOPPELPOLIG, VIERPOSITION, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-90686-1999 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, HEX-WECHSELRICHTER MIT OFFENEN DRAIN-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88705 REV A-2003 MIKROKREISKREIS, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 10-BIT-D-TYP-FLIP-FLOP MIT THREESTATE-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88766 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL-LINEAR, 12-BIT-CMOS-DIGITAL-ANALOG-KONVERTER MIT AUSGANGSVERSTÄRKER UND REFERENZ, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90564 REV D-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CHMOS, EINZEL-CHIP, 8-BIT-MIKROCONTROLLER MIT 16.000 BYTES EPROM-PROGRAMMSPEICHER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-06238 REV A-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 8-BIT-UNIVERSAL-SHIFT-/SPEICHERREGISTER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89593 REV D-1995 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 32-BIT-DMA-CONTROLLER MIT INTEGRIERTER SYSTEMUNTERSTÜTZUNG VON PERIPHERIEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89678 REV A-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, VIERFACH 8-BIT-MULTIPLIERENDER CMOS, DIGITAL-ANALOG-KONVERTER MIT SPEICHER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92176 REV B-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, OKTALER PUFFER/LEITUNGSTREIBER MIT NICHTINVERTIERENDEN DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92178 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, OKTALER TRANSPARENTER D-TYP-LATCH MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92179 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, OKTALER D-TYP-FLIP-FLOP MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92183 REV C-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, HEX-WECHSELRICHTER MIT SCHMITT-TRIGGER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92200 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 10-BIT TRANSPARENTER LATCH MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88674-1988 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, SCHNELLES CMOS, 8-BIT, NICHT INVERTIEREND, BUS-SCHNITTSTELLENREGISTER, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIKON

International Organization for Standardization (ISO), anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

ISO 11271:2022 Bodenqualität – Bestimmung des Redoxpotentials – Feldmethode
ISO 8298:2000 Kernbrennstofftechnik - Bestimmung von Milligrammmengen Plutonium in Salpetersäurelösungen - Potentiometrische Titration mit Kaliumdichromat nach Oxidation durch CE(IV) und Reduktion durch FE(II)

(U.S.) Ford Automotive Standards, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

FORD ESB-M64J27-A4-1993 OXIDATIONSPOTENTIALKONTROLLADDITIV Abgebildet auf ESB-M64J27-A1

CZ-CSN, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

CSN 44 1876-1982 Bauxit. Bestimmung von Chrom(III)oxid. Die potentiometrischen und photometrischen Methoden.
CSN 44 1875-1983 Bauxit. Bestimmung von Vanadiumoxid. Die potentiometrischen und photometrischen Methoden.
CSN 70 0632 Cast.1-1986 Glasprüfmethoden. Chemische Analyse von Glas. Bestimmung von Bleioxid. Volumetrische Methode mit Komplexon 3 (nach der elektrolytischen Trennung)

Professional Standard - Machinery, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

JB/T 7948.2-1999 Methoden zur chemischen Analyse von geschmolzenen Schweißpulvern. Potentiometrische Methode zur Bestimmung des Manganoxidgehalts

Professional Standard - Aviation, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

HB/Z 339.1-1999 Analytische Methode der anodischen Chromsäure-Oxidationslösung einer Aluminiumlegierung. Bestimmung des freien Chromtrioxids und des Gesamtchromtrioxidgehalts durch potentiometrische Titration
HB/Z 5086.3-2000 Analysemethode zur Cyanid-Galvanisierung von Kupferlösungen. Potentiometrische Titration zur Bestimmung des Natriumhydroxidgehalts
HB/Z 5105.1-2000 Elektrochemische Polierlösungsanalysemethode Potentiometrische Titration Bestimmung des Chromtrioxidgehalts
HB/Z 5084.2-2000 Analytische Methode der Zyanid-Galvanisierung von Zinklösungen durch potentiometrische Titration zur Bestimmung des Gehalts an Natriumhydroxid
HB/Z 5085.3-1999 Analytische Methode der Cyanid-Galvanik mit Cadmiumlösung. Potentiometrische Titration zur Bestimmung des Natriumhydroxidgehalts
HB/Z 5105.2-2000 Elektrochemische Polierlösungsanalysemethode Potentiometrische Titration Bestimmung des Chromtrioxidgehalts
HB/Z 5109.9-2001 Analysemethode für Passivierungslösung Bestimmung des Chromtrioxidgehalts in Passivierungslösung für die Kupferplattierung durch potentiometrische Titration
HB/Z 5091.1-1999 Analysemethode für Verchromungslösung Bestimmung des Chromtrioxidgehalts durch potentiometrische Titration
HB/Z 5107.18-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 18: Bestimmung des Ammoniumchloridgehalts (Natriumchlorid) in Salpetersäure-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5107.17-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 17: Bestimmung des Salpetersäuregehalts in Salpetersäure-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5092.1-2001 Analysemethode der galvanischen Schwarzchromlösung, potentiometrische Titration, Bestimmung des Chromtrioxidgehalts
HB/Z 5091.2-1999 Analysemethode für Verchromungslösung Bestimmung des Dichromtrioxidgehalts durch potentiometrische Titration
HB/Z 5109.3-2001 Analysemethode für Passivierungslösung. Bestimmung von Chromtrioxid in Trisäure-Passivierungslösungen für die Verzinkung und Cadmiumbeschichtung durch potentiometrische Titration
HB/Z 5107.7-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 7: Bestimmung des Eisessigsäuregehalts in Eisessigsäure-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5107.9-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 9: Bestimmung des Chlorgehalts in Eisessigsäure-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5107.16-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 16: Bestimmung des Kaliumbichromatgehalts in Salpetersäure-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5093.2-2000 Analytische Methode der alkalischen Galvanisierung von Zinnlösungen. Potentiometrische Titration zur Bestimmung des Gehalts an Natriumhydroxid
HB/Z 5107.5-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 5: Bestimmung des Eisessigsäuregehalts in Aluminiumkaliumsulfat-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5107.6-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 6: Bestimmung des Kaliumbichromatgehalts in Eisessigsäure-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5107.3-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 3: Bestimmung des Kaliumbichromatgehalts in Aluminiumkaliumsulfat-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5107.11-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 11: Bestimmung des Natriumbichromatgehalts in Natriumbichromat- und Magnesiumsulfat-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5107.12-2004 Methoden zur Analyse der chemischen Oxidationslösung für Magnesiumlegierungen – Teil 12: Bestimmung des Kaliumbichromatgehalts in Kaliumbichromat- und Magnesiumsulfat-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5107.14-2004 Methoden zur Analyse chemischer Oxidationslösungen für Magnesiumlegierungen – Teil 14: Bestimmung des Ammoniaksulfatgehalts in Kaliumbichromat- und Magnesiumsulfat-Oxidationslösungen durch potentiometrische Methode
HB/Z 5110.2-2000 Analysemethode für elektrochemische Entfettung und chemische Entfettungslösung Potentiometrische Titrationsbestimmung von Natriumhydroxid, Natriumcarbonat und Trinatriumphosphat
HB 20055.2-2011 Methoden zur Analyse chemischer Mahllösungen für Aluminiumlegierungen. Teil 2: Bestimmung des Natriumhydroxidgehalts durch potentiometrische titrimetrische Methode
HB/Z 5099.5-2000 Analytische Methode zur Galvanisierung von Silberlösungen. Potentiometrische Titrationsbestimmung des Kaliumhydroxidgehalts in Hartsilber-Plattierungslösungen
HB/Z 5104.2-1999 Analytische Methode der anodischen Schwefelsäure-Oxidationslösung einer Aluminiumlegierung – Bestimmung des Aluminiumgehalts durch potentiometrische Titration
HB/Z 339.2-1999 Analysemethode einer Chromsäure-Anodisierungslösung für Aluminiumlegierungen zur Bestimmung des Chloridionengehalts durch potentiometrische Titration
HB/Z 5104.3-1999 Analysemethode für Sulfid-Säure-Anodisierungslösung aus Aluminiumlegierung. Bestimmung des Chloridionengehalts durch potentiometrische Titration
HB/Z 5104.1-1999 Analytische Methode der anodischen Oxidationslösung mit Schwefelsäure aus Aluminiumlegierung. Potentiometrische Titrationsbestimmung von freier Schwefelsäure und gebundener Schwefelsäure

RU-GOST R, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

GOST ISO 27107-2016 Tierische und pflanzliche Fette und Öle. Bestimmung des Peroxidwerts mittels potentiometrischer Endpunktmethode
GOST R 8.702-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Messelektroden zur Bestimmung des Oxidations-Reduktionspotentials (ORP). Überprüfungsverfahren

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

GJB 760-1989 Coulometrische Methode mit kontrolliertem Potenzial zur Bestimmung des Gesamtplutoniumgehalts in Plutoniumdioxid

Lithuanian Standards Office , anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

LST EN ISO 2376:2010 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotentials (ISO 2376:2010)
LST EN ISO 27107:2010 Tierische und pflanzliche Fette und Öle – Bestimmung des Peroxidwerts – Potentiometrische Endpunktbestimmung (ISO 27107:2008, korrigierte Fassung 2009-05-15)
LST EN 15168-2007 Oberflächenaktive Stoffe – Bestimmung der Hydroxylzahl – p-Toluensulfonylisocyanat (TSI)-Methode und potentiometrische Titration mit Tetrabutylammoniumhydroxid

AENOR, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

UNE-EN ISO 2376:2011 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotentials (ISO 2376:2010)
UNE-ISO 11271:2007 Bodenqualität – Bestimmung des Redoxpotentials – Feldmethode. (ISO 11271:2002)
UNE 51118:1983 STANDARDPRÜFMETHODE FÜR DIE OXIDATIONSSTABILITÄT VON FLUGKRAFTSTOFFEN (POTENZIELLE RÜCKSTANDSMETHODE)
UNE-EN ISO 27107:2010 Tierische und pflanzliche Fette und Öle – Bestimmung des Peroxidwerts – Potentiometrische Endpunktbestimmung (ISO 27107:2008, korrigierte Fassung 2009-05-15)
UNE-EN 15168:2007 Oberflächenaktive Stoffe – Bestimmung der Hydroxylzahl. p-Toluensulfonylisocyanat (TSI)-Methode und potentiometrische Titration mit Tetrabutylammoniumhydroxid

Association Francaise de Normalisation, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

NF T20-554:1989 Wasserstoffperoxid für den industriellen Einsatz. Bestimmung des scheinbaren pH-Wertes (pha). Potentiometrische Methode.
NF T90-260:2023 Wasserqualität – Charakterisierung von Analysemethoden – Messung des Redoxpotentials im Wasser
NF EN ISO 27107:2010 Fette tierischen und pflanzlichen Ursprungs – Bestimmung des Peroxidindex – Bestimmung mit potentiometrischem Haltepunkt
NF M07-013:1982 Flüssige Brennstoffe und Schmieröle. Oxidationsstabilität von Flugkraftstoffen. Mögliche Rückstandsmethode.
NF A05-207*NF ISO 15158:2014 Korrosion von Metallen und Legierungen – Methode zur Messung des Lochfraßpotentials für rostfreie Stähle durch potentiodynamische Kontrolle in Natriumchloridlösung
NF EN ISO 10156:2017 Gasflaschen - Gase und Gasgemische - Bestimmung der Entflammbarkeit und des Oxidationspotentials für die Wahl der Ventilausgangsanschlüsse

Professional Standard - Non-ferrous Metal, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

YS/T 710.1-2009 Methode zur chemischen Analyse von Kobaltoxid. Teil 1: Bestimmung des Kobaltgehalts. Potentiometrische Methode

Shanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

DB14/T 692-2012 Bestimmung des Peroxidwerts landwirtschaftlicher Nüsse durch automatische potentiometrische Titration

International Telecommunication Union (ITU), anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

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工业和信息化部, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

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Professional Standard - Nuclear Industry, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

EJ/T 1212.2-2008 Testmethoden zur Analyse von gesinterten Gadoliniumoxid-Urandioxid-Pellets. Teil 2: Bestimmung der Isotopen-Uramium-Zusammensetzung durch thermische Ionisations-Massenspektrometrie
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EJ/T 973-1995 Bestimmung der Uranisotopenhäufigkeit in Urandioxidpulver und -pellets durch thermische Ionisationsmassenspektrometrie
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EJ/T 1212.5-2008 Testmethoden zur Analyse von gesinterten Gadoliniumoxid-Urandioxid-Pellets. Teil 5: Bestimmung des Urangehalts durch Eisensulfatreduktion in Phosphorsäure und Dichromat-Titrationsverfahren
EJ/T 277-1986 Präzise Bestimmung von Uran in hochreinem U3O8 durch Eisensulfatreduktion/Potentiometrische Titration mit Kaliumdichromat

Universal Oil Products Company (UOP), anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

UOP 291-2013 Gesamtchlorid in Aluminiumoxid- und Siliciumdioxid-Aluminiumoxid-Katalysatoren durch Mikrowellenaufschluss und potentiometrische Titration
UOP 291-2015 Gesamtchlorid in Aluminiumoxid- und Siliciumdioxid-Aluminiumoxid-Katalysatoren durch Mikrowellenaufschluss und potentiometrische Titration

U.S. Military Regulations and Norms, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

ARMY MIL-M-63320 A (4)-1990 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS (ANFANGSLOGIK)
ARMY MIL-M-63320 A-1981 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS (ANFANGSLOGIK)
ARMY MIL-M-63321 A NOTICE 1-1997 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS (ENDGÜLTIGE LOGIK)
ARMY MIL-M-63320 A NOTICE 1-1997 MILITÄRSPEZIFIKATION MIKROKREIS, DIGITAL, CMOS (ANFANGSLOGIK)

Professional Standard - Commodity Inspection, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

SN/T 4306-2015 Bestimmung des Chromoxidgehalts in Chromerz. Automatische potentiometrische Titration mit Mikrowellenaufschlussmethode

IN-BIS, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

IS 8554-1977 Verfahren zur Überprüfung der Isolationseigenschaften von Eloxalschichten durch Messung des Durchschlagspotenzials

Professional Standard - Agriculture, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

水和废水监测分析方法 3.1.10-2003 Teil III Umfassende Indikatoren und anorganische Schadstoffe Kapitel I Physikalische und chemische Indikatoren Zehn Oxidations-Reduktionspotenziale (B)

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

GJB 5969.2-2007 Testverfahren für Mikrosphären-Urandioxid mit beschichtetem Niob für U-Boot-Kernkraftwerke. Teil 2: Bestimmung von Uran durch Eisensulfatreduktion und Kaliumdichromat-Titrationsverfahren

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GJB 8793.2-2015 Prüfverfahren für mit Niob beschichtete Urandioxid-Mikrokügelchen, die in U-Boot-Kernkraftwerken verwendet werden. Teil 2: Bestimmung von Uran. Potentiometrische Titrationsmethode zur Reduktion von Eisensulfat und zur Oxidation von Kaliumdichromat

European Committee for Standardization (CEN), anfängliches Oxidationspotential Oxidationspotential

EN 15168:2006 Oberflächenaktive Stoffe – Bestimmung der Hydroxylzahl – p-Toluensulfonylisocyanat (TSI)-Methode und potentiometrische Titration mit Tetrabutylammoniumhydroxid