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Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

Für die Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer gibt es insgesamt 158 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer die folgenden Kategorien: Kriminalprävention, Optische Ausrüstung, Längen- und Winkelmessungen, analytische Chemie, Luftqualität, Elektronische Anzeigegeräte, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Baumaterial, Optik und optische Messungen, Farben und Lacke, Metrologie und Messsynthese, Physik Chemie, Stahlprodukte, Keramik, Zutaten für die Farbe, Textilfaser, Papier und Pappe.


International Organization for Standardization (ISO), Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
  • ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
  • ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
  • ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode; Technische Berichtigung 1
  • ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse durch Elektronenenergieverlustspektroskopie
  • ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
  • ISO 17751-2:2014 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • ISO 17751-2:2023 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Professional Standard - Judicatory, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
  • KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • KS K ISO 17751-2:2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

American Society for Testing and Materials (ASTM), Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E1588-95(2001) Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
  • ASTM E1588-08 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
  • ASTM E1588-10 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
  • ASTM E1588-95 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
  • ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E1588-20 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
  • ASTM E2809-13 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektrometrie bei forensischen Farbuntersuchungen
  • ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E280-98(2004)e1 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (4 &189; bis 12 Zoll [114 bis 305 mm]) Stahlgussteile
  • ASTM E1588-07 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
  • ASTM E2809-22 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektroskopie (SEM/EDS) bei forensischen Polymeruntersuchungen
  • ASTM E1588-07e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
  • ASTM E280-21 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (412 bis 12 Zoll (114 bis 305 mm)) Stahlgussteile
  • ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
  • ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
  • ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E1588-10e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
  • ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
  • ASTM E3309-21 Standardhandbuch für die Berichterstattung über die Analyse von forensischen Primer-Schussrückständen (pGSR) mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie (SEM/EDS)
  • ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
  • ASTM E2142-01 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
  • ASTM E3284-23 Standardpraxis für die Ausbildung in der forensischen Untersuchung von Zündschussrückständen (pGSR) mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie (SEM/EDS)
  • ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
  • ASTM E1588-16 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
  • ASTM F1372-93(1999) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
  • ASTM F1372-93(2020) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
  • ASTM E1588-16a Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
  • ASTM E1588-17 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
  • ASTM D605-82(1996)e1 Standardspezifikation für Magnesiumsilikatpigment (Talk)
  • ASTM D6059-96(2011) Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM F1372-93(2012) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
  • ASTM F1372-93(2005) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
  • ASTM E2090-06 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM E2090-12(2020) Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie

British Standards Institution (BSI), Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
  • BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
  • BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
  • DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
  • BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
  • BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
  • BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632. Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz im Elektronenstrahlmikroskop oder einem Elektronenstrahlmikroanalysator (EPMA)
  • BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
  • BS EN ISO 17751-2:2023 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • BS EN ISO 17751-2:2016 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
  • 12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
  • BS ISO 15632:2012 Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
  • BS ISO 15632:2021 Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Elektronenstrahl-Mikroanalysegerät (EPMA)

Professional Standard - Public Safety Standards, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 909-2010 Sammel- und Verpackungsmethode für Spurenspuren – Schussrückstände (SEM/EDS-Untersuchung)
  • GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 823.3-2018 Methoden zur Untersuchung von Farbspuren in der Forensik Teil 3: Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1520-2018 Forensische Wissenschaft Schwarzpulver, pyrotechnische Pulverelementzusammensetzungsprüfung Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • GB/T 17361-2013 Mikrostrahlanalyse. Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels Rasterelektronenmikroskop und energiedispersivem Spektrometer
  • GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiedispersive Spektrometrie
  • GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
  • GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS
  • GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
  • GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
  • GB/T 32869-2016 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
  • GB/T 18873-2002 Allgemeine Spezifikation des Transmissionselektronenmikroskops (TEM) – quantitative Mikroanalyse mit röntgenenergiedispersivem Spektrum (EDS) für dünne biologische Proben
  • GB/T 18873-2008 Allgemeiner Leitfaden zur quantitativen Mikroanalyse mit Transmissionselektronenmikroskop (TEM) und energiedispersiver Röntgenspektrometrie (EDS) für dünne biologische Proben
  • GB/T 17507-2008 Allgemeine Spezifikation dünner biologischer Standards für die Röntgen-EDS-Mikroanalyse im Transmissionselektronenmikroskop
  • GB/T 2679.11-2008 Papier und Karton. Qualitative Analyse von mineralischem Füllstoff und mineralischer Beschichtung. SEM/EDAX-Methode
  • GB/T 2679.11-1993 Papier und Karton. Qualitative Analyse von mineralischen Füllstoffen und mineralischen Beschichtungen. SEM/EDAX-Methode

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung

Association Francaise de Normalisation, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
  • XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
  • NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • FD T16-203:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
  • NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von auf Oberflächen abgelagertem Faserstaub mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
  • NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
  • NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

SE-SIS, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

RU-GOST R, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
  • GOST ISO 16000-27-2017 Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

Danish Standards Foundation, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

German Institute for Standardization, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
  • DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
  • DIN ISO 16000-27:2014-11 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)
  • DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO 17751-2:2016); Deutsche Fassung EN ISO 17751-2:2016 / Hinweis: Wird durch DIN EN ISO 17751-2 (2022-09) ersetzt.
  • DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO/DIS 17751-2:2022); Deutsche und englische Version prEN ISO 17751-2:2022 / Hinweis: Ausgabedatum 19.08.2022*I...
  • DIN ISO 16000-27:2014 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)

KR-KS, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • KS D ISO 15632-2023 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem
  • KS K ISO 17751-2-2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

ES-UNE, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
  • UNE-EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode (ISO 17751-2:2016)

AENOR, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • DB44/T 1216-2013 Charakterisierung von Graphen mittels Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenspektroskopie
  • DB44/T 1215-2013 Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und Energiespektroskopie

GOSTR, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • PNST 508-2020 Nanotechnologien. Einwandige Kohlenstoffnanoröhren. Charakterisierung mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie

AT-ON, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

European Committee for Standardization (CEN), Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

BE-NBN, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

Association of German Mechanical Engineers, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

  • VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Rasterelektronenmikroskop-Energiespektrometer

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